[發明專利]一種硅雙向觸發二極管的制造方法無效
| 申請號: | 200810122237.1 | 申請日: | 2008-11-13 |
| 公開(公告)號: | CN101399201A | 公開(公告)日: | 2009-04-01 |
| 發明(設計)人: | 陳福元;毛建軍;胡煜濤 | 申請(專利權)人: | 杭州杭鑫電子工業有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/329 | 分類號: | H01L21/329;H01L21/78;H01L21/50 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 | 代理人: | 張法高 |
| 地址: | 310053浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 雙向 觸發 二極管 制造 方法 | ||
1.一種硅雙向觸發二極管的制造方法,其特征在于包括如下步驟:
1)在N-型硅單晶片的正反兩個面上同時完成P+型半導體雜質擴散,得到P+/N-/P+結構;
2)研磨P+/N-/P+結構硅片的正反兩個表面;
3)在P+/N-/P+結構硅片的正反兩個表面鍍上鎳層;
4)將P+/N-/P+結構的硅片鋸切成二極管芯片;
5)通過隧道爐將二極管芯片與封裝底座焊接;
6)進行二極管垂直臺面的酸腐蝕清洗,PN結的表面鈍化,壓模成型,制成硅雙向觸發二極管。
2.根據權利要求1所述的一種硅雙向觸發二極管的制造方法,其特征在于所述的N-型硅單晶片的電阻率為0.03~0.05Ωcm。
3.根據權利要求1所述的一種硅雙向觸發二極管的制造方法,其特征在于所述的研磨為機械研磨。
4.根據權利要求1所述的一種硅雙向觸發二極管的制造方法,其特征在于所述的P+型半導體雜質為硼。
5.根據權利要求1所述的一種硅雙向觸發二極管的制造方法,其特征在于所述的鋸切成二極管芯片的四周PN結呈現垂直于芯片表面的臺面形狀。
6.根據權利要求1所述的一種硅雙向觸發二極管的制造方法,其特征在于所述的PN結的酸腐蝕清洗與表面鈍化,皆在二極管的垂直臺面上進行。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





