[發明專利]異常數據檢驗方法和裝置

無效

• 申請號: 200810105628.2
• 申請日: 2008-04-30
• 公開（公告）號: CN101571891A
• 公開（公告）日: 2009-11-04
• 發明（設計）人: 楊斯元
• 申請（專利權）人: 中芯國際集成電路制造（北京）有限公司
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00;H01L21/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司
• 代理人: 李 麗

1.一種異常數據檢驗方法，其特征在于，包括：

將未經過濾的數據樣本按照大小順序進行排序；

選擇第一百分位P₁和第二百分位P₂；

計算與所述數據樣本和百分位對應的百位分數值，將對應于第一百分位P₁和第二百分位P₂的百位分數計算結果作為所述數據樣本的數值篩選上限值和數據篩選下限值；

所述數據樣本中數值大于數值篩選上限值或小于數值篩選下限值的數據為異常數據點。

2.如權利要求1所述的異常數據檢驗方法，其特征在于，采用百位分數Percentile公式計算所述百位分數值。

3.如權利要求1所述的異常數據檢驗方法，其特征在于，所述P₁、P₂滿足關系：P₁+P₂＝1。

4.如權利要求1所述的異常數據檢驗方法，其特征在于，所述第一百分位為99.9998828％，所述第二百分位為0.0001172％。

5.如權利要求1所述的異常數據檢驗方法，其特征在于，所述第一百分位為99.6512％，所述第二百分位為0.348802％。

6.如權利要求1所述的異常數據檢驗方法，其特征在于，采用線性外推法結合百位分數公式Percentile公式計算所述百位分數值。

7.如權利要求6所述的異常數據檢驗方法，其特征在于，所述線性外推法包括：選定線性的包含百分位的數值篩選限值計算公式；由標準正態分布百分位公式求出線性的數值篩選限值計算公式中的線性系數k值；求出線性的控制界計算公式中所包含百分位在所述數據樣本中對應的數據值；將線性系數k值和百分位對應的數據值代入所述線性的數值篩選限值計算公式。

8.一種異常數據檢驗裝置，其特征在于，包括：

數據樣本排序單元，用于將未經過濾的數據樣本按照大小順序進行排序；

百分位選擇單元，用于選擇第一百分位P₁和第二百分位P₂；

數據篩選限值計算單元，用于計算與所述數據樣本和百分位對應的百位分數值，將對應于第一百分位P₁和第二百分位P₂的百位分數計算結果作為所述數據樣本的數值篩選上限值和數據篩選下限值；

確定單元，用于將所述數據樣本中數值大于數值篩選上限值或小于數值篩選下限值的數據確定為異常數據點。

9.如權利要求8所述的異常數據檢驗裝置，其特征在于，所述數據篩選限值計算單元包括：

數值篩選上限值計算單元，用于采用百位分數Percentile公式計算對應于第一百分位P₁的百位分數值，作為數值篩選上限值；

數值篩選下限值計算單元，用于采用百位分數Percentile公式計算對應于第一百分位P₂的百位分數值，作為數值篩選下限值。

10.如權利要求8所述的異常數據檢驗裝置，其特征在于，所述數據篩選限值計算單元包括線性外推計算單元和限值計算單元；所述線性外推計算單元，計算控制界計算單元所采用的線性公式中的百分位在所述數據樣本中所對應的數據值，以及線性系數k值；限值計算單元根據百分位對應的百位分數值和線性系數k值，采用相應的線性公式，計算所述非正態分布類型數據的數據篩選限值。