[發明專利]自動生化分析儀分光光度計用光學系統無效
| 申請號: | 200810104080.X | 申請日: | 2008-04-15 |
| 公開(公告)號: | CN101261217A | 公開(公告)日: | 2008-09-10 |
| 發明(設計)人: | 祁洪濤 | 申請(專利權)人: | 泓澤嘉業(北京)科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G01N35/00;G01N33/50 |
| 代理公司: | 北京北新智誠知識產權代理有限公司 | 代理人: | 張衛華 |
| 地址: | 100089北京市海淀區藍靛廠東路2號*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 自動 生化 分析 分光 光度計 用光 系統 | ||
1、一種自動生化分析儀分光光度計用光學系統,其特征在于:該光學系統包括光源、準直鏡、比色皿、聚焦鏡、入射板、角鏡、平面平場全息光柵和陣列探測器,其中:同軸依次排列有光源、準直鏡、比色皿、聚焦鏡、入射板、角鏡,入射板上設有的狹縫,角鏡的反射工作面與軸線成一銳角,角鏡后的軸線兩側分別放置平面平場全息光柵、陣列探測器,平面平場全息光柵與陣列探測器的接收工作面相對放置,光源發射出的光線依次經過準直鏡、比色皿、聚焦鏡、入射板狹縫而射向角鏡,光線由角鏡的反射工作面反射后射向平面平場全息光柵,平面平場全息光柵將光線色散后形成的平場光譜射向陣列探測器的接收工作面,以使陣列探測器探測射入的平場光譜。
2、根據權利要求1所述的光學系統,其特征在于:所述光源為石英鹵鎢燈。
3、根據權利要求1所述的光學系統,其特征在于:所述準直鏡為石英透鏡。
4、根據權利要求1所述的光學系統,其特征在于:所述比色皿由石英玻璃制成。
5、根據權利要求1所述的光學系統,其特征在于:所述聚焦鏡為石英透鏡。
6、根據權利要求1所述的光學系統,其特征在于:所述入射板的狹縫為機械刀口狹縫。
7、根據權利要求1所述的光學系統,其特征在于:所述角鏡由k9光學玻璃制成。
8、根據權利要求1所述的光學系統,其特征在于:所述陣列探測器為硅光電二極管陣列。
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