[發明專利]熱式質量流量計及其操作方法

有效

• 申請號: 200810100543.5
• 申請日: 2008-05-20
• 公開（公告）號: CN101311684A
• 公開（公告）日: 2008-11-26
• 發明（設計）人: R·胡克
• 申請（專利權）人: ABB股份公司
• 主分類號: G01F1/684
• 分類號: G01F1/684;G01F1/86
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 董華林

1.熱式質量流量計，包括至少一個在支架上安裝的傳感器裝置， 所述傳感器裝置浸入一個包含流動的介質的容器內；其特征在于，傳 感器裝置包括第一和第二測量元件，其中分別加熱一個測量元件而不 加熱另一測量元件，并且兩個測量元件可輪流地加熱，兩個測量元件 具有不同的表面特性，并且在各測量元件上不同地引導介質的流動。

2.按照權利要求1所述的質量流量計，其特征在于，兩種操作方 式的占空比是不對稱的。

3.按照權利要求1或2所述的質量流量計，其特征在于，其中一 個測量元件的表面配備抗粘附層。

4.按照權利要求1或2所述的質量流量計，其特征在于，測量元 件的表面粗糙度是不同的。

5.用于操作熱式質量流量計的方法，該質量流量計包括至少一個 在支架上安裝的傳感器裝置，所述傳感器裝置浸入一個包含流動的介 質的容器內；其特征在于，利用兩個彼此具有不同表面特性的測量元 件測量流量，將兩個測量元件輪流地階段式加熱；階段式相互比較各 測量元件的測量值；在測量元件的測量值之間的偏差在接著的階段中 識別作為測量元件的改變，在接著的階段中只在幾乎恒定的流量時評 價在測量元件的測量值之間的偏差。