[發明專利]晶粒自動對位、以及堆棧式封裝結構及其制造方法有效
| 申請號: | 200810099847.4 | 申請日: | 2008-05-26 |
| 公開(公告)號: | CN101281874A | 公開(公告)日: | 2008-10-08 |
| 發明(設計)人: | 王盟仁;王維中 | 申請(專利權)人: | 日月光半導體制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/50 | 分類號: | H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60;H01L25/00;H01L23/31;H01L23/488;H01L23/538 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 | 代理人: | 陸嘉 |
| 地址: | 臺灣省高雄市*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 晶粒 自動 對位 以及 堆棧 封裝 結構 及其 制造 方法 | ||
1.一種晶粒自動對位的封裝結構的制造方法,包括:
(a)提供一載體(Carrier),該載體具有數個承載平臺;
(b)提供數個晶粒,且分別將所述晶粒置放于所述承載平臺上;
(c)進行回焊制程,使得所述晶粒對齊于所述承載平臺;
(d)形成一封膠材料于所述晶粒間的間隙;及
(e)進行切割制程,以形成數個封裝結構。
2.如權利要求1的制造方法,其中該步驟(a)中,該載體為一硅晶片。
3.如權利要求1的制造方法,其中該步驟(a)中,每一該承載平臺包含一焊料層及一金屬墊塊,且該金屬墊塊是位于該焊料層及該載體之間。
4.如權利要求1的制造方法,其中該步驟(a)中該承載平臺包含數個焊料層。
5.如權利要求1的制造方法,其中該步驟(a)之后更包括一形成一助焊劑(Flux)于所述承載平臺上的步驟。
6.如權利要求1的制造方法,其中該步驟(b)中,每一晶粒包括一第一表面及一第二表面,該第二表面是朝向所述承載平臺,該第二表面更包括一濕潤層(Wettable?layer),而該第一表面更包括數個球墊(Ball?pad)。
7.如權利要求1的制造方法,其中該載體更具有數個溝槽,位于所述承載平臺之間,該步驟(d)中該封膠材料更形成于所述溝槽內。
8.如權利要求1的制造方法,其中該步驟(d)之后更包括一移除該載體的步驟。
9.如權利要求1的制造方法,其中該步驟(d)之后更包括一形成一電路層于該封膠材料上的步驟,該電路層電性連接所述晶粒。
10.一種封裝結構,包括:
封膠材料,具有第一表面、第二表面及容置槽,該容置槽是貫穿該封膠材料;
承載平臺,位于該容置槽內且暴露于該封膠材料的第二表面;
晶粒,位于該容置槽內,該晶粒具有第一表面及第二表面,該第一表面是暴露于該封膠材料的第一表面,其中該晶粒的第一表面更包括數個球墊(Ball?pad);
濕潤層,位于該晶粒的第二表面,且連接該承載平臺;及
電路層,位于該封膠材料的第一表面上,且該電路層電性連接該晶粒的第一表面。
11.如權利要求10的封裝結構,更包括一載體,位于該封膠材料的第二表面。
12.如權利要求10的封裝結構,其中該承載平臺包含一焊料層及一金屬墊塊,且該焊料層是位于該金屬墊塊及該濕潤層之間。
13.如權利要求10的封裝結構,更包括數個焊球,位于該電路層上。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





