[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置以及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810099635.6 | 申請(qǐng)日: | 2008-06-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101325209A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-12-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 秋元健吾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社半導(dǎo)體能源研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L27/15 | 分類號(hào): | H01L27/15;H01L27/32;H01L21/84 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 李玲 |
| 地址: | 日本神*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置,包括:
襯底上的鍵合層;
所述鍵合層上的絕緣膜和第一像素電極,該第一像素電極嵌入在所述絕緣膜中;
所述絕緣膜上的島狀單晶半導(dǎo)體層;
所述島狀單晶半導(dǎo)體層中的溝道形成區(qū)域和高濃度雜質(zhì)區(qū)域;
所述島狀單晶半導(dǎo)體層上的柵極絕緣膜和柵電極;
覆蓋所述島狀單晶半導(dǎo)體層、所述柵極絕緣膜、及所述柵電極的層間絕緣膜;
所述層間絕緣膜上的布線,該布線使所述高濃度雜質(zhì)區(qū)域和所述第一像素電極電連接;
覆蓋所述層間絕緣膜、所述島狀單晶半導(dǎo)體層、所述柵極絕緣膜、及所述柵電極且開(kāi)口形成在所述第一像素電極上的區(qū)域的分隔壁;
形成在所述第一像素電極上的由所述分隔壁圍繞的區(qū)域的發(fā)光層;以及
所述發(fā)光層及所述分隔壁上的電連接到所述發(fā)光層的第二像素電極,
其中,所述第一像素電極的與所述發(fā)光層接觸的面平坦,
并且,所述絕緣膜和所述島狀單晶半導(dǎo)體層接觸的面與所述第一像素電極和所述發(fā)光層接觸的面相同。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,
其中,所述島狀單晶半導(dǎo)體層是島狀單晶硅層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,
其中,所述鍵合層使用氧化硅形成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,
其中,所述第一像素電極使用透光性導(dǎo)電膜形成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1的所述的半導(dǎo)體裝置,
其中,所述第一像素電極使用反射性導(dǎo)電膜形成。
6.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,其中:
在半導(dǎo)體襯底上形成第一像素電極;
在所述第一像素電極及所述半導(dǎo)體襯底上形成絕緣膜;
將包含氫的離子注入到所述絕緣膜來(lái)在所述半導(dǎo)體襯底中形成具有多孔結(jié)構(gòu)的分離層;
在所述絕緣膜上形成鍵合層;
在中間夾著所述鍵合層地重疊所述半導(dǎo)體襯底和具有絕緣表面的襯底的狀態(tài)下,進(jìn)行在所述分離層中產(chǎn)生裂縫,以在所述分離層分離所述半導(dǎo)體襯底的熱處理,同時(shí)在所述具有所述絕緣表面的襯底上殘留單晶半導(dǎo)體層;
對(duì)所述單晶半導(dǎo)體層進(jìn)行蝕刻來(lái)將所述單晶半導(dǎo)體層形成為島狀單晶半導(dǎo)體層,并且形成所述第一像素電極的保護(hù)層;
在所述島狀單晶半導(dǎo)體層上形成柵極絕緣膜及柵電極;
將所述柵電極作為掩模,將賦予一種導(dǎo)電型的雜質(zhì)元素添加到所述島狀單晶半導(dǎo)體層中,而在所述柵電極的下面的區(qū)域中形成溝道形成區(qū)域,并且在沒(méi)有形成所述柵電極的區(qū)域中形成用作源區(qū)域及漏區(qū)域的高濃度雜質(zhì)區(qū)域;
對(duì)所述保護(hù)層進(jìn)行蝕刻來(lái)使所述第一像素露出;
覆蓋所述島狀單晶半導(dǎo)體層、所述柵極絕緣膜、所述柵電極地形成層間絕緣膜;
在所述層間絕緣膜上形成使所述高濃度雜質(zhì)區(qū)域之一和所述第一像素電極電連接的布線;
形成覆蓋所述層間絕緣膜、所述島狀單晶半導(dǎo)體層、所述柵極絕緣膜、所述柵電極且開(kāi)口形成在所述第一像素電極上的區(qū)域的分隔壁;
在所述第一像素電極上的由所述分隔壁圍繞的區(qū)域形成發(fā)光層;
在所述發(fā)光層及所述分隔壁上形成電連接到所述發(fā)光層的第二像素電極;
其中,所述第一像素電極的與所述發(fā)光層接觸的面平坦;
并且,所述島狀單晶半導(dǎo)體層和所述絕緣膜接觸的面與所述第一像素電極和所述發(fā)光層接觸的面相同。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,
其中,所述單晶半導(dǎo)體層是單晶硅層。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,
其中,所述鍵合層使用氧化硅形成。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,
其中,所述第一像素電極使用透光性導(dǎo)電膜形成。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體裝置的制造方法,
其中,所述第一像素使用反射性導(dǎo)電膜形成。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門(mén)適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門(mén)適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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