[發(fā)明專利]用于薄膜晶體管的半導(dǎo)體層無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810099567.3 | 申請日: | 2008-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN101582383A | 公開(公告)日: | 2009-11-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | Y·李;B·S·翁 | 申請(專利權(quán))人: | 施樂公司 |
| 主分類號: | H01L21/368 | 分類號: | H01L21/368 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 段曉玲;韋欣華 |
| 地址: | 美國康*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 薄膜晶體管 半導(dǎo)體 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本公開內(nèi)容涉及制備用于薄膜晶體管的氧化鋅半導(dǎo)體層的方 法,和由此產(chǎn)生的半導(dǎo)體層和/或薄膜晶體管。
背景技術(shù)
[0002]氧化鋅(ZnO)是一種無毒的無機半導(dǎo)體,其也可以提供諸如高 遷移率、優(yōu)異環(huán)境穩(wěn)定性和高透明性之類的顯著特征。
[0003]但是,制造半導(dǎo)體的方法將影響ZnO半導(dǎo)體層的遷移率。具 有高遷移率的ZnO半導(dǎo)體通常僅通過射頻磁控濺射制造。由射頻磁控濺 射在精巧受控環(huán)境中制備的ZnO薄膜半導(dǎo)體已經(jīng)顯示高FET遷移率(> 30cm2/V·sec),但是這種技術(shù)與低成本的TFT制造方法不兼容。這種設(shè) 備昂貴并且導(dǎo)致高成本。
[0004]在2006年6月12日提交的US專利申請序列號11/450,998 中所述的另一種方法中,ZnO前體用來形成ZnO半導(dǎo)體層,在此將其公 開內(nèi)容全部引入。但是,這種方法需要在350-550℃進行退火步驟以獲 得高遷移率。這種溫度不適合于在這些溫度下發(fā)生變形的載體,例如聚 合物載體,如聚酯、聚碳酸酯、聚酰亞胺薄膜或片材。
[0005]ZnO半導(dǎo)體也已在低(環(huán)境)溫度下,使用溶液中的ZnO納米 顆粒或納米棒加以制備。但是,這種方法包括額外的步驟以制備納米顆 粒或納米棒。參見B.Sun等人的“Solution-Processed?Zinc?Oxide Field-Effect?Transistors?Based?on?Self-Assembly?of?Colloidal?Nanorods”, Nano?Lett.,5卷,12期,2408-2413頁(2005年)。
[0006]TFTs通常由載體上的導(dǎo)電性柵極、源極和漏極、電學(xué)絕緣柵 介電層和半導(dǎo)電層組成,所述電學(xué)絕緣柵介電層將柵極與源極和漏極分 隔,所述半導(dǎo)電層與柵介電層接觸并接通源極和漏極。有利的是在低溫 下生產(chǎn)具有良好遷移率和/或其它理想性能的氧化鋅半導(dǎo)體。
[0007]在各實施方案中,本公開內(nèi)容涉及一種生產(chǎn)ZnO半導(dǎo)體層和/ 或包括該ZnO半導(dǎo)體層的薄膜晶體管的方法。
發(fā)明內(nèi)容
[0008]在一個實施方案中,制備氧化鋅半導(dǎo)體的方法包括提供包含 鋅鹽和絡(luò)合劑的溶液;使基材與該溶液接觸;和加熱該溶液形成氧化鋅 半導(dǎo)體層。
[0009]在一些實施方案中,鋅鹽可以選自硝酸鋅、氯化鋅、硫酸鋅 和乙酸鋅。在更具體的實施方案中,鋅鹽為硝酸鋅。
[0010]在其它實施方案中,絡(luò)合劑可以為羧酸或有機胺。在具體實 施方案中,絡(luò)合劑為選自六亞甲基四胺、乙醇胺、氨基丙醇、二乙醇胺、 2-甲基氨基乙醇、N,N-二甲氨基乙醇、甲氧基乙胺、甲氧基丙胺、二氨 基乙烷、二氨基丙烷、二氨基丁烷、二氨基環(huán)己烷及其混合物。在更具 體的實施方案中,絡(luò)合劑為六亞甲基四胺的有機胺。
[0011]在另外的實施方案中,溶液中鋅鹽與絡(luò)合劑的摩爾比可以為 約0.5到約10。
[0012]在其它實施方案中,溶液中Zn2+的濃度可以為約0.01M到約 5.0M。
[0013]在其它實施方案中,通過將基材浸入溶液中,基材可以與包 含鋅鹽和絡(luò)合劑的溶液接觸。在另外的實施方案中,基材也可以通過在 其上沉積溶液,與該溶液接觸。在更進一步的實施方案中,液相沉積的 方法可以選自旋涂、刮涂、棒涂、浸涂、絲網(wǎng)印刷、微接觸印刷、墨噴 印刷和模印。
[0014]在另外的實施方案中,可以通過將包含鋅鹽和絡(luò)合劑的溶液 加熱到約50℃到約300℃而進行加熱。在其它實施方案中,也可以通過 加熱到約50℃到約150℃而進行加熱。在一些實施方案中,溶液可以加 熱約1分鐘到約24小時。在一些實施方案中,溶液可以加熱約1分鐘 到約6小時。在進一步的實施方案中,可以通過以約0.5℃到約100℃每 分鐘的速率加熱而進行加熱。
[0015]該方法可以進一步包括沖洗和干燥基材。
[0016]在一些實施方案中,所得薄膜晶體管可以具有至少0.1 cm2/V·sec的場效應(yīng)遷移率。
[0017]在其它實施方案中,所得半導(dǎo)體層可以具有大于約103的電 流通/斷比。
[0018]在進一步的實施方案中,基材可以包括玻璃、硅或聚合物材 料的薄膜或片材。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





