[發明專利]半導體元件結構及半導體元件的制造方法無效
| 申請號: | 200810097859.3 | 申請日: | 2008-05-19 |
| 公開(公告)號: | CN101587831A | 公開(公告)日: | 2009-11-25 |
| 發明(設計)人: | 黃世晟;涂博閔;詹世雄 | 申請(專利權)人: | 先進開發光電股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L21/20;H01L23/00;H01L33/00;H01L31/0236;H01L31/18;H01S5/323 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 | 代理人: | 陳 晨;張浴月 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 元件 結構 制造 方法 | ||
1.一種半導體元件的制造方法,包含:
提供基板,在該基板表面形成多條溝槽,使該基板成為圖案化基板,該 圖案化基板表面通過該多條溝槽而被劃分成多個平臺結構,該溝槽的寬度大 于或等于2μm,該溝槽的深度介于1~15μm,單一該平臺結構為方形、菱 形、圓形、橢圓形、平行四邊形或其它任意多邊形,單一該平臺結構表面的 平均直徑或邊長介于50μm~2mm;與
成長半導體元件于該圖案化基板表面,該半導體元件具有至少一層膜層, 其中,與該圖案化基板接觸的該膜層為第一膜層,該第一膜層通過該多條溝 槽而被劃分成多個不相連的區域。
2.如權利要求1所述的半導體元件的制造方法,其中該基板上的圖案利 用光刻或激光雕刻的方式形成。
3.如權利要求1所述的半導體元件的制造方法,該半導體元件為光電元 件或發光二極管。
4.如權利要求1所述的半導體元件的制造方法,該第一膜層為三族氮化 物半導體材料,該三族氮化物半導體材料可為AlxInyGa1-x-yN,其中0≤x+y ≤1,該圖案化基板的材料為藍寶石。
5.如權利要求1所述的半導體元件的制造方法,該圖案化基板用以降低 該第一膜層內部的應力。
6.一種半導體元件結構,包含:
圖案化基板,該圖案化基板具有多條溝槽,該圖案化基板表面通過該多 條溝槽而被劃分成多個平臺結構,該溝槽的寬度大于或等于2μm,該溝槽的 深度介于1~15μm,單一該平臺結構為方形、菱形、圓形、橢圓形、平行四 邊形或其它任意多邊形,單一該平臺結構表面的平均直徑或邊長介于50μm ~2mm;與
半導體元件,該半導體元件位于該圖案化基板表面,
該半導體元件具有至少一層膜層,其中,與該圖案化基板接觸的該膜 層為第一膜層,該第一膜層通過該多條溝槽而被劃分成多個不相連的區 域。
7.如權利要求6所述的半導體元件結構,該圖案化基板用以降低該第一 膜層內部的應力。
8.如權利要求6所述的半導體元件結構,該第一膜層為三族氮化物半導 體材料,該三族氮化物半導體材料可為AlxInyGa1-x-yN,其中0≤x+y≤1,該 圖案化基板的材料為藍寶石。
9.如權利要求6所述的半導體元件結構,該半導體元件為光電元件或為 發光二極管。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





