[發明專利]發出輻射的半導體元件及降低其操作電壓的方法無效
| 申請號: | 200810097609.X | 申請日: | 2008-05-21 |
| 公開(公告)號: | CN101587924A | 公開(公告)日: | 2009-11-25 |
| 發明(設計)人: | 林文禹;黃世晟;詹世雄 | 申請(專利權)人: | 先進開發光電股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01S5/00;H01S5/323 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 | 代理人: | 陳 晨 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 發出 輻射 半導體 元件 降低 操作 電壓 方法 | ||
1.一種發出輻射的半導體元件,包含:
用以產生輻射的活性層;
p型傳導層,該p型傳導層形成于該活性層上;
透明傳導層,該透明傳導層形成于該p型傳導層上;與 非故意摻雜歐姆接觸層,形成于該p型傳導層與該透明傳導層之間, 并且該非故意摻雜歐姆接觸層的與該透明傳導層接觸的表面為平坦 面。
2.如權利要求1所述的發出輻射的半導體元件,其中,該半導體元 件為發光二極管或為激光二極管。
3.如權利要求1所述的發出輻射的半導體元件,其中,該非故 意摻雜歐姆接觸層為AlxGayIn(1-x-y)N四元合金,x值與y值的范 圍為0<x≤1,0≤y≤1,且上述該AlxGayIn(1-x-y)N四元合金中的 能隙大于活性層的能隙,以此特性降低該非故意摻雜歐姆接觸層 的吸光效應。
4.如權利要求1所述的發出輻射的半導體元件,其中,該非故 意摻雜歐姆接觸層為單一外延成長層,該非故意摻雜歐姆接觸層 的厚度范圍值為
5.如權利要求1所述的發出輻射的半導體元件,其中,該非故 意摻雜歐姆接觸層是用以降低該發出輻射的半導體元件的操作電 壓。
6.如權利要求1所述的發出輻射的半導體元件,其中,該半導 體元件還包含基板與n型傳導層,該n型傳導層位于該基板與該 活性層之間,該基板為藍寶石或為碳化硅,該透明傳導層為下列 族群之一或其組合:銦錫氧化物、銦鋅氧化物、氧化鋅、氧化鎳、 鎘錫氧化物、ZnO:Al、ZnGa2O4、SnO2:Sb、Ga2O3:Sn、AgInO2:Sn、 In2O3:Zn、CuAlO2、LaCuOS、CuGaO2與SrCu2O2。
7.一種降低發出輻射的半導體元件的操作電壓的方法,包含:
提供基板;
于基板上依序形成n型傳導層、用以產生輻射的活性層、p型傳 導層;
于該p型傳導層上依序形成非故意摻雜歐姆接觸層以及透明傳導 層,其中該非故意摻雜歐姆接觸層的與該透明傳導層接觸的表面 為平坦面,該非故意摻雜歐姆接觸層是用以降低該半導體元件的 操作電壓。
8.如權利要求7所述的降低發出輻射的半導體元件的操作電壓 的方法,其中,該半導體元件為發光二極管或激光二極管。
9.如權利要求7所述的降低發出輻射的半導體元件的操作電壓 的方法,其中,該非故意摻雜歐姆接觸層為AlxGayIn(1-x-y)N四元 合金,x值與y值的范圍為0<x≤1,0≤y≤1,且上述該 AlxGayIn(1-x-y)N四元合金的能隙大于活性層的能隙,以此特性降 低該非故意摻雜歐姆接觸層的吸光效應。
10.如權利要求7所述的降低發出輻射的半導體元件的操作電壓 的方法,其中,該非故意摻雜歐姆接觸層為單一外延成長層,該 非故意摻雜歐姆接觸層的厚度范圍值為該透明傳導 層為下列族群之一或其組合:銦錫氧化物、銦鋅氧化物、氧化鋅、 氧化鎳、鎘錫氧化物、ZnO:Al、ZnGa2O4、SnO2:Sb、Ga2O3:Sn、 AgInO2:Sn、In2O3:Zn、CuAlO2、LaCuOS、CuGaO2與SrCu2O2。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于先進開發光電股份有限公司,未經先進開發光電股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810097609.X/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:改進型網架節點螺栓球
- 下一篇:一種水凈化無負壓成套供水設備





