[發明專利]JTAG鏈路測試方法及其裝置有效
| 申請號： | 200810097597.0 | 申請日： | 2008-05-15 |
| 公開（公告）號： | CN101470170A | 公開（公告）日： | 2009-07-01 |
| 發明（設計）人： | 曹錦業 | 申請（專利權）人： | 華為技術有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/3185 | 分類號： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 | 代理人： | 逯長明 |
| 地址： | 518129廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | jtag 測試 方法 及其 裝置 | ||
1.一種聯合測試行動組JTAG鏈路測試方法，用于測試由待測器件組成的JTAG鏈路，其特征在于，包括：
向JTAG鏈路置入一組全1指令碼，所述全1的指令碼的長度大于或等于待測試器件的數量；
根據所述全1指令碼，JTAG鏈路選擇1位移位數據寄存器連接在JTAG鏈路各個待測器件上，且所述移位數據寄存器捕獲各個待測器件的狀態；
按照測試時鐘，將包含特征碼的測試向量中的比特通過JTAG鏈路依次輸入各個移位數據寄存器中，所述測試向量的長度大于待測試器件的數量；
按照測試時鐘，依次輸出各個移位數據寄存器中捕獲的待測器件的狀態和測試向量中的特征碼；
根據所述移位數據寄存器輸出的待測器件的狀態和特征碼，判斷JTAG鏈路是否正常。
2.根據權利要求1所述的JTAG鏈路測試方法，其特征在于，所述特征碼為包含任意非全0的一個或多個比特。
3.一種聯合測試行動組JTAG鏈路測試裝置，用于測試由待測器件組成的JTAG鏈路，其特征在于，包括：
測試時鐘單元，用于產生測試時鐘；
輸入單元，用于向待測試的器件置入一組全1指令碼，所述全1的指令碼的長度大于或等于待測試的器件的數量，以及置入包含特征碼的測試向量，所述測試向量的長度大于待測試器件的數量，并按照所述測試時鐘單元產生的測試時鐘，向移位數據寄存器依次輸入所述測試向量中的比特；
指令寄存器，用于根據所述輸入單元置入的全1指令碼，選擇1位的移位數據寄存器連接在各個待測器件上；
移位數據寄存器，用于根據輸入單元置入的測試向量，按照所述測試時鐘，依次輸出各個移位數據寄存器捕獲的待測器件的狀態和測試向量中的特征碼；
判斷單元，用于根據移位數據寄存器輸出的待測器件的狀態和特征碼，判斷JTAG鏈路是否正常。
4.一種通信設備，包括JTAG鏈路測試裝置，用于測試由待測器件組成的JTAG鏈路，其特征在于，包括：
測試時鐘單元，用于產生測試時鐘；
輸入單元，用于向待測試的器件置入一組全1指令碼，所述全1的指令碼的長度大于或等于待測試的器件的數量，以及置入包含特征碼的測試向量，所述測試向量的長度大于待測試器件的數量，并按照所述測試時鐘單元產生的測試時鐘，向移位數據寄存器依次輸入所述測試向量中的比特；
指令寄存器，用于根據所述輸入單元置入的全1指令碼，選擇1位的移位數據寄存器連接在各個待測器件上；
移位數據寄存器，用于根據輸入單元置入的測試向量，按照所述測試時鐘，依次輸出各個移位數據寄存器捕獲的待測器件的狀態和測試向量中的特征碼；
判斷單元，用于根據移位數據寄存器輸出的待測器件的狀態和特征碼，判斷JTAG鏈路是否正常。
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