[發明專利]圖像拾取設備和校正拍攝圖像數據的方法無效
| 申請號: | 200810097568.4 | 申請日: | 2008-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN101309349A | 公開(公告)日: | 2008-11-19 |
| 發明(設計)人: | 木下雅也 | 申請(專利權)人: | 索尼株式會社 |
| 主分類號: | H04N3/15 | 分類號: | H04N3/15;H04N9/04 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 余剛;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 拾取 設備 校正 拍攝 數據 方法 | ||
1.一種圖像拾取設備,包括:
固態圖像拾取裝置,包括以二維陣列形式排列的多個像素,像素結構所必需的電路的一部分在具有相同配置圖樣的預定數目的像素之間被共享;
校正值生成裝置,用于為包括在一個配置圖樣中全部n個像素的每一個生成關于從具有相同配置圖樣的每個像素的像素位置讀出的像素數據的校正值,所述校正值用于校正由所述配置圖樣中的像素之間的位置差異所引起的像素特性的不均勻性,其中n表示2以上的整數;以及
校正裝置,用于基于由所述校正值生成裝置生成的關于對應像素數據的所述校正值來校正從所述固態圖像拾取裝置讀出的每個像素數據。
2.根據權利要求1所述的圖像拾取設備,
其中,所述像素特性的不均勻性表示像素數據之間的黑色電平的不均勻性。
3.根據權利要求2所述的圖像拾取設備,
其中,通過在所述固態圖像拾取裝置中檢測所述黑色電平的區域中計算配置在所述配置圖樣中的相同位置處的像素的黑色電平的平均值,所述校正值生成裝置生成關于從具有相同配置圖樣的每個像素的像素位置讀出的所述像素數據的所述校正值。?
4.根據權利要求1所述的圖像拾取設備,
其中,所述像素特性的不均勻性表示像素數據之間的輸出線性的不均勻性。
5.根據權利要求4所述的圖像拾取設備,
其中,所述校正值生成裝置包括存儲裝置,所述存儲裝置用于對所述配置圖樣中的每個像素位置存儲當拍攝相同對象的圖像時根據從所述固態圖像拾取裝置讀出的所述像素數據而生成的所述校正值,所述校正值用于校正所述配置圖樣中的像素位置之間的輸出電平差。
6.根據權利要求1所述的圖像拾取設備,還包括:
存儲裝置,用于存儲由所述校正值生成裝置生成的所述校正值。
7.一種圖像拾取設備,包括:
固態圖像拾取裝置,包括以二維陣列形式排列的多個像素,像素結構所必需的電路的一部分在具有相同配置圖樣的預定數目的像素之間被共享;
黑色電平生成裝置,用于通過使用從與檢測所述黑色電平的區域相對應的像素讀出的像素數據,為包括在一個配置圖樣中全部n個像素的每一個生成從具有相同配置圖樣的每個像素的像素位置讀出的像素數據的平均黑色電平,所述配置圖樣中的不同像素位置具有不同的平均黑色電平,其中n表示2以上的整數;以及
箝位裝置,用于基于由所述黑色電平生成裝置生成的所述平均黑色電平,對從所述固態圖像拾取裝置讀出的每個像素數據執行數字箝位。?
8.根據權利要求7所述的圖像拾取設備,
其中,所述黑色電平生成裝置在所述固態圖像拾取裝置中檢測所述黑色電平的區域中計算配置在所述配置圖樣中的相同位置處的像素的黑色電平的平均值,并且為所述配置圖樣中的每行更新所述平均值,以生成所述配置圖樣中的每個像素位置處的黑色電平。
9.根據權利要求7所述的圖像拾取設備,
其中,所述黑色電平生成裝置在所述固態圖像拾取裝置中檢測所述黑色電平的區域中計算配置在所述配置圖樣中的相同位置處的像素的黑色電平的平均值,并且為所述二維陣列的每個畫面更新所述平均值,以生成所述配置圖樣中的每個像素位置處的黑色電平。
10.一種用于校正從固態圖像拾取裝置讀出的拍攝圖像數據的方法,所述固態圖像拾取裝置包括以二維陣列形式排列的多個像素,像素結構所需的電路的一部分在具有相同配置圖樣的預定數目的像素之間被共享,所述方法包括以下步驟:
為包括在一個配置圖樣中全部n個像素的每一個生成關于從具有相同配置圖樣的每個像素的像素位置讀出的像素數據的校正值,所述校正值用于校正由所述配置圖樣中的像素之間的位置差異而引起的像素特性的不均勻性,其中n表示2以上的整數;以及
基于關于對應像素數據的所述校正值來校正從所述固態圖像拾取裝置讀出的每個像素數據。?
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