[發明專利]基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法和設備

無效

• 申請號: 200810097438.0
• 申請日: 2008-05-26
• 公開（公告）號: CN101277129A
• 公開（公告）日: 2008-10-01
• 發明（設計）人: 于洋
• 申請（專利權）人: 杭州華三通信技術有限公司
• 主分類號: H04B3/48
• 分類號: H04B3/48;H04L12/26;H04L12/28
• 代理公司: 北京挺立專利事務所
• 代理人: 葉樹明

1、一種基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特征在于，包括：

CLT在下行時段指示CNU進行接收信號的測量；

所述CLT根據所述CNU發送的測量結果，獲取到所述CNU的下行通道的衰減。

2、如權利要求1所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特征在于，所述CLT在下行時段指示CNU進行接收信號的測量具體包括：

所述CLT生成控制消息，并在所述控制消息中攜帶要求所述CNU進行接收信號的測量的指示；

所述CLT在下行時段向所述CNU發送所述控制消息。

3、如權利要求1所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特征在于，所述CLT根據所述CNU發送的測量結果，獲取到所述CNU的下行通道的衰減具體包括：

所述CLT接收所述CNU在上行時段發送的控制消息，獲取所述控制消息中攜帶的測量結果；

所述CLT獲取向所述CNU發送信號的信號質量；

所述CLT比較所述CNU發送的測量結果以及所述發送信號的信號質量，獲取到所述CNU的下行通道的衰減。

4、如權利要求1或2所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特征在于，所述CLT在下行時段指示CNU進行接收信號的測量后，還包括：

所述CNU的MAC層芯片接收所述CLT在下行時段發送的控制消息，獲取所述控制消息中攜帶的要求所述CNU進行接收信號的測量的指示；

所述CNU的PHY芯片根據所述MAC層芯片接收的指示，對從所述CLT接收的接收信號進行測量，并將所述測量結果提供給所述MAC層芯片。

所述CNU的MAC層芯片將所述測量結果添加在控制消息中，并在上行時段向所述CLT發送。

5、一種基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特征在于，包括：

CNU接收CLT在下行時段發送的指示；

所述CNU根據所述指示對從所述CLT接收的接收信號進行測量并獲得測量結果；

所述CNU將所述測量結果向所述CLT發送。

6、如權利要求5所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特征在于，所述CNU接收CLT在下行時段發送的指示具體包括：

所述CNU的MAC層芯片接收所述CLT在下行時段發送的控制消息；

所述CNU的MAC層芯片獲取所述控制消息中攜帶的要求所述CNU進行接收信號的測量的指示。

7、如權利要求5或6所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特征在于，所述CNU根據所述指示對從所述CLT接收的接收信號進行測量并獲得測量結果具體包括：

所述CNU的PHY芯片根據所述MAC層芯片接收的指示，對從所述CLT接收的接收信號進行測量；

所述CNU的PHY芯片存儲測量結果，并將所述測量結果提供給所述MAC層芯片。

8、如權利要求7所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特征在于，所述CNU將所述測量結果向所述CLT發送具體包括：

所述CNU的MAC層芯片獲取所述PHY芯片存儲的測量結果；

所述CNU的MAC層芯片將所述測量結果添加在控制消息中，并在上行時段向所述CLT發送。

9、如權利要求5所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特征在于，所述CNU接收CLT在下行時段發送的指示前，還包括：

所述CLT生成控制消息，并在所述控制消息中攜帶要求所述CNU進行接收信號的測量的指示；

所述CLT在下行時段向所述CNU發送所述控制消息。

10、如權利要求5所述基帶EPCN系統中下行通道的衰減檢測方法，其特征在于，所述CNU將所述測量結果向所述CLT發送后，包括：

所述CLT接收所述CNU在上行時段發送的控制消息，獲取所述控制消息中攜帶的測量結果；

所述CLT獲取向所述CNU發送信號的信號質量；

所述CLT比較所述CNU發送的測量結果以及所述發送信號的信號質量，獲取到所述CNU的下行通道的衰減。