[發(fā)明專利]可重建幾何陰影圖方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810096135.7 | 申請日: | 2008-05-06 |
| 公開(公告)號: | CN101271588A | 公開(公告)日: | 2008-09-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 戴慶華;楊寶光 | 申請(專利權(quán))人: | 威盛電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G06T15/60 | 分類號: | G06T15/60 |
| 代理公司: | 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 重建 幾何 陰影 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種圖形處理,且特別是有關(guān)于一種陰影繪圖。
背景技術(shù)
在計(jì)算機(jī)繪圖中,陰影圖(Shadow?mapping)以及陰影錐(shadow?volumes)是二種常用的實(shí)時(shí)(real-time)陰影技術(shù)。陰影錐是Frank?Crow在1977年所提出的技術(shù),使用幾何方法計(jì)算3維(3-D)物體遮光區(qū)域。此算法利用模板緩存(stencil?buffer)來計(jì)算某一像素(測試像素)是否在陰影中。陰影錐的主要優(yōu)點(diǎn)是對于像素是準(zhǔn)確的,反之陰影圖的準(zhǔn)確性需視紋理存儲(chǔ)器(texture?memory)大小以及如何投影陰影而定。陰影錐技術(shù)需要大量的硬件填繪時(shí)間,而其執(zhí)行速度往往會(huì)比陰影圖技術(shù)要慢,尤其是大規(guī)模復(fù)雜幾何場景。
陰影圖是將陰影加入3-D計(jì)算機(jī)圖像中的技術(shù),其由LanceWilliams在1978提出。此算法被廣泛應(yīng)用于預(yù)先描繪(pre-rendered)場景,以及實(shí)時(shí)(real-time)的應(yīng)用中。通過光源觀察點(diǎn)比較遮光物與測試像素的深度,亦即測試對光源而言某個(gè)測試像素是否可見,以便建立遮光物的陰影。陰影圖是一種簡單有效的圖像空間方法(image?space?method)。陰影圖是陰影表現(xiàn)方法其中之一,其常常應(yīng)用在高速需求上。然而,其遇到了鋸齒問題(aliasing?error)以及深度偏移問題(depthbias?issues)。解決這兩個(gè)缺點(diǎn)是陰影表現(xiàn)技術(shù)領(lǐng)域的研究課題。
在陰影圖中的鋸齒錯(cuò)誤可以分為二類:透視鋸齒錯(cuò)誤(perspective?aliasing?errors)以及投影鋸齒錯(cuò)誤(projectivealiasing?errors)。在陰影邊緣放大時(shí)會(huì)發(fā)生透視鋸齒錯(cuò)誤。當(dāng)光線幾乎平行幾何表面且延伸超出深度范圍時(shí),就會(huì)發(fā)生投影鋸齒錯(cuò)誤。大部分陰影圖技術(shù)的另一個(gè)問題是深度偏移問題。為了避免錯(cuò)誤的“自陰影”(self-shadowing)問題,William揭露一種常數(shù)深度偏移技術(shù),其在與真實(shí)表面(true?surface)比較之前便將其加入深度采樣中。不幸地,太多的偏移可能會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的“無陰影”(non-shadowing,看起來像是遮光物浮在光線接收物的上方)而使陰影后退太遠(yuǎn)。實(shí)際上,直接地決定偏移值是非常難的,并且無法在每一個(gè)場景找出一個(gè)通用可接受的值。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種可重建幾何陰影圖方法,以降低“透視鋸齒”(perspective?aliasing)與“投影鋸齒”(projective?aliasing)這二種鋸齒錯(cuò)誤,并解決深度偏移而引起的錯(cuò)誤“自陰影”(falsesclf-shadowing)與錯(cuò)誤“無陰影”(false?non-shadowing)等問題的課題。
本發(fā)明提出一種可重建幾何陰影圖方法。首先以光源為觀察點(diǎn),儲(chǔ)存物體前表面(fonrt-facing)的多個(gè)遮光幾何形的幾何信息。將測試像素進(jìn)行一致性測試,以便從多個(gè)遮光幾何形中找出相對應(yīng)于測試像素的遮光幾何形。其中遮光幾何形具有遮光點(diǎn);以光源為觀察點(diǎn),此測試像素與該遮光點(diǎn)重疊。使用上述遮光幾何形的幾何信息以及測試像素的位置信息,重建遮光點(diǎn)的深度值。最后比較遮光點(diǎn)的深度值與測試像素的深度值,以完成測試像素的陰影判斷。
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