[發明專利]面板缺陷定位機構

有效

• 申請號: 200810093637.4
• 申請日: 2008-04-18
• 公開（公告）號: CN101561247A
• 公開（公告）日: 2009-10-21
• 發明（設計）人: 葉公旭;林祈廷
• 申請（專利權）人: 東捷科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 天津三元專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 錢 凱

1.一種面板缺陷定位機構，其特征在于，其包括：

一對第一座體，該每一第一座體具有一第一滑軌、一第一軸向微調部及一第一位置定位模塊；

一第二座體，具有一對第一滑動部及一連結于該對第一滑動部間的第二滑軌；該對第一滑動部可滑動的設于該對第一滑軌上，使該第二座體可沿一第一軸向移動，且利用該第一軸向微調部作細微調整；

一檢測裝置，具有一第二滑動部、一檢視鏡頭、一第二軸向微調部、一第二位置定位模塊及一光源發射部；該第二滑動部可滑動的設于該第二滑軌上，使該檢測裝置可沿一第二軸向移動，且利用該第二軸向微調部作細微調整；該第一位置定位模塊及該第二位置定位模塊可精確定位出該檢視鏡頭所對應的檢視位置坐標；而該光源發射部可產生一高對比度可見光；

其中，該光源發射部所產生的高對比度可見光，其是與該檢視鏡頭的中心軸線重疊，且可于一待測物件上產生一明顯光點，且該明顯光點即為該檢測鏡頭的中心所對應的位置。

2.根據權利要求1所述的面板缺陷定位機構，其特征在于：所述第一位置定位模塊及該第二位置定位模塊是連結至一坐標設定模塊。

3.根據權利要求1所述的面板缺陷定位機構，其特征在于：所述第一位置定位模塊及該第二位置定位模塊為編碼器。

4.根據權利要求1所述的面板缺陷定位機構，其特征在于：所述第一位置定位模塊及該第二位置定位模塊為光學尺。