[發明專利]張力測定裝置

無效

• 申請號: 200810093336.1
• 申請日: 2008-04-18
• 公開（公告）號: CN101290254A
• 公開（公告）日: 2008-10-22
• 發明（設計）人: 森本英夫
• 申請（專利權）人: 新田株式會社
• 主分類號: G01L1/14
• 分類號: G01L1/14;G01L5/04
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 劉杰;劉宗杰

1.一種張力測定裝置，其特征在于，包括：

多個固定電極，在一個平面內沿一個方向相互隔開；

可動電極，在與上述多個固定電極之間分別構成電容元件，并能夠在靠近上述平面的方向和離開上述平面的方向中的至少一個方向上發生位移；和

受力部，通過接受來自外部的作用力使上述可動電極發生位移，從而改變形成各電容元件的上述固定電極和上述可動電極之間的距離，

根據各電容元件的靜電電容值的變化來測定作用于上述受力部的力的大小。

2.權利要求1記載的張力測定裝置，其特征在于：

設置有2個上述固定電極，

當上述受力部受力時，在上述2個固定電極和上述可動電極之間形成的2個電容元件中一個電容元件的靜電電容值變大，而另一個電容元件的靜電電容值變小。

3.權利要求2記載的張力測定裝置，其特征在于：

上述受力部配置在上述2個固定電極的與上述一個方向的外側相對應的位置上，

上述可動電極與上述平面平行，并且能夠圍繞著配置在與上述2個固定電極之間相對應的位置上的轉動軸進行轉動。

4.權利要求1記載的張力測定裝置，其特征在于：

設置2個上述固定電極，

上述受力部配置在上述2個固定電極的與上述一個方向的外側相對應的位置上，

上述可動電極以其一端作為支點，并只能在靠近上述平面的方向以及離開上述平面的方向中的一個方向上發生位移。

5.一種張力測定裝置，其特征在于，包括：

多個第一固定電極，在一個平面沿一個方向上相互隔開；

多個第二固定電極，在與上述平面相對置的另一個平面內沿上述一個方向相互隔開；

可動電極，在與上述多個第一固定電極和上述多個第二固定電極之間分別構成電容元件，并能夠在靠近上述平面的方向和離開上述平面的方向中的至少一個方向上發生位移；和

受力部，通過接受來自外部的作用力使上述可動電極發生位移，從而改變構成各電容元件的上述第一固定電極和上述可動電極之間的距離及上述第二固定電極和上述可動電極之間的距離，

根據各電容元件的靜電電容值的變化來測定作用于上述受力部的力的大小。

6.權利要求5記載的張力測定裝置，其特征在于：

使上述第一固定電極和上述第二固定電極兩兩相對置設置，

當上述受力部受力時，在上述2個第一固定電極和上述可動電極之間形成的2個電容元件中的一個電容元件的靜電電容值變大，而另一個電容元件的靜電電容值變小，并且形成在上述2個第二定電極和上述可動電極之間的2個電容元件中的一個電容元件的靜電電容值變大，而另一個電容元件的靜電電容值變小。

7.權利要求6記載的張力測定裝置，其特征在于：上述受力部配置在上述2個第一固定電極的與上述一個方向的外側相對應的位置上，

上述可動電極與上述平面平行，并且能夠圍繞著配置在與上述2個第一固定電極和上述2個第二固定電極各自之間相對應的位置上的轉動軸轉動。