[發明專利]實時阻抗測量系統與方法

無效

• 申請號: 200810093207.2
• 申請日: 2008-04-18
• 公開（公告）號: CN101561467A
• 公開（公告）日: 2009-10-21
• 發明（設計）人: 唐海
• 申請（專利權）人: 英業達股份有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司
• 代理人: 陳 紅

技術領域

本發明有關于一種測量系統與方法，且特別是有關于一種阻抗測量系統與方法。

背景技術

元件測試作業在制造工業中占有相當重要的地位，為了提高產品的合格率，首先需在元件進廠時便需先進行各種元件測試作業。

現有的元件測試方法是利用測試器以測量待測元件的電參數，測試人員需記錄數據并判斷數據是否在正常范圍內。若數據不在正常范圍內，則判斷待測元件為不良品，并進行不良品的后續處理。

圖1是現有的阻抗測量裝置的方塊示意圖。請參照圖1，測試器裝置10包括計算機11、測試器12、開關箱13與待測物14，測試人員可通過計算機11選擇測試器的多種測試功能以對待測物進行一連串的測試作業，以測試待測物的信賴度。然而，在所述測試作業完成之后，尚需測試人員個別地測量每一待測物的電性參數，如此，將耗費許多人力并延長整個測試作業時間。

有鑒于此，為解決現有測試系統與作業耗費人力與時間的問題，需要設計一種測量系統與方法，其可快速且自動地測量元件的電性參數，并分析所述電性參數以節省人力、簡化測試作業并提高測試準確度。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種實時阻抗測量系統，用以測量多個待測元件的阻抗值，以簡化測試流程并提高測試作業的準確性。

本發明的另一目的在于提供一種實時阻抗測量方法，用以快速且自動地測量元件的電性參數，并對所述電性參數進行分析，以簡化并加速測試作業，同時可節省人力并降低成本。

為了實現上述目的，本發明提出一種實時阻抗測量系統，以測量多個待測元件的阻抗值。該實時阻抗測量系統包含：電源裝置、開關矩陣(switchmatrix)、阻抗測量器與測試控制器。開關矩陣包含多個元件開關，所述元件開關分別連接所述待測元件的一端。電源裝置通過一電源開關連接所述待測元件的另一端，并輸出一測試電源信號。該測試電源信號可例如為一直流信號或一交流信號。阻抗測量器通過一測量開關連接待測元件的另一端。測試控制器用以控制開關矩陣、電源開關與測量開關三者。當測試控制器閉合元件開關與電源開關，且關斷測量開關時，連接于閉合的元件開關的待測元件可接收測試電源信號。另外，當測試控制器關斷電源開關且閉合測量開關，并依序閉合元件開關時，阻抗測量器可依序測量連接于其上的待測元件的阻抗值。

依據本發明的一實施例的實時阻抗測量系統，測試控制器可接收待測元件的阻抗值并對所述阻抗值進行后續的分析作業。測試控制器可分別通過開關控制信號、電源開關控制信號與測量開關控制信號控制開關矩陣、電源開關與測量開關。另外，系統可進一步包括接口總線，該接口總線可傳送開關控制信號、電源開關控制信號與測量開關控制信號，并可傳送來自阻抗測量器的阻抗值至測試控制器或其它具有數據記錄與分析功能的數據處理裝置，例如計算機等。該接口總線可例如為通用接口總線(General?Purpose?InterfaceBus，GPIB)或RS-232接口。

此外，在該實施例中，測試控制器可通過執行儀器集成程序產生開關控制信號、電源開關控制信號與測量開關控制信號三者。儀器集成程序可例如為Labview程序、C語言程序與VB語言程序。而且，當元件開關與電源開關閉合時，待測元件串聯電源裝置，當測量開關閉合，且元件開關依序閉合時，待測元件依序并聯阻抗測量器。并且，測試控制器可依據儀器集成程序的指令控制元件開關與測量開關，使阻抗測量器依序地測量每一待測元件的阻抗值并將阻抗值傳回至測試控制器，以進行后續的分析作業。若測試控制器判斷某一待測元件為不良品，則在后續的測試流程中，可省略該待測元件的測試作業。

為了實現上述目的，本發明還提出一種實時阻抗測量方法，用以測量多個待測元件阻抗值，該實時阻抗測量方法包含下列步驟：提供開關矩陣、電源開關、測量開關與測試控制器，開關矩陣包含多個元件開關，所述元件開關分別連接所述待測元件的一端，且測試控制器用以控制開關矩陣、電源開關與測量開關。然后，閉合元件開關，且閉合電源開關以傳送測試電源信號至待測元件，該測試電源信號可例如為一直流信號或一交流信號。之后，閉合測量開關并依序閉合元件開關，以依序測量待測元件的阻抗值，同樣地，所述阻抗值可例如為一直流阻抗值或一交流阻抗值。