[發(fā)明專利]電容式觸控裝置的檢測(cè)方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200810092517.2
• 申請(qǐng)日: 2008-04-18
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101561733A
• 公開(kāi)（公告）日: 2009-10-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 洪澤倫;黃榮壽;蔡欣學(xué)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 義隆電子股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F3/044
• 分類號(hào): G06F3/044
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 任默聞

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是有關(guān)一種電容式觸控裝置，特別是關(guān)于一種電容式觸控裝置的檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

在傳統(tǒng)應(yīng)用上，大尺寸電容式觸控螢?zāi)唤允褂帽砻骐娙菔?surfacecapacitive)感測(cè)技術(shù)，但表面電容式感測(cè)技術(shù)是利用流向銀幕各端點(diǎn)的一組電流不同來(lái)判別手指的位置，因此當(dāng)觸碰觸控面板的手指數(shù)為二指以上時(shí)，回報(bào)電流組數(shù)仍為一組，故僅能辨別一組絕對(duì)坐標(biāo)位置，例如在二維矩陣時(shí)僅能回報(bào)一組X，Y參數(shù)，因而無(wú)法達(dá)到多指觸控的功能。

所有觸點(diǎn)可定位(A11?Points?Addressable；APA)型陣列電容式感測(cè)技術(shù)雖然可以達(dá)到多指觸控的功能，但是其需要對(duì)每個(gè)點(diǎn)感測(cè)器(Point?Sensor)進(jìn)行充放電的動(dòng)作，以矩陣形狀的觸控面板來(lái)說(shuō)，當(dāng)X軸及Y軸的感應(yīng)線(trace)增加時(shí)，APA型陣列電容式的像素?cái)?shù)目將急劇增加，因而造成取像速度(frame?rate)下降，故不適用于大尺寸觸控面板的應(yīng)用。

另一種軸交錯(cuò)(Axis?Intersect；AI)型陣列電容式感測(cè)技術(shù)也同樣能達(dá)到多指觸控的功能。圖1顯示傳統(tǒng)應(yīng)用在小尺寸觸控面板的AI型陣列電容式感測(cè)技術(shù)，其包括一小尺寸觸控面板10以及一AI型陣列電容式觸控IC12掃描觸控面板10，以一最大可支持掃描22條感應(yīng)線的AI型陣列電容式觸控IC12為例來(lái)說(shuō)，雖然應(yīng)用在X軸及Y軸各有10條感應(yīng)線TRX1～TRX10及TRY1～TRY10的小尺寸觸控面板10時(shí)取像速度還不錯(cuò)，但是若要將AI型陣列電容式觸控IC12應(yīng)用于X軸及Y軸各有40條感應(yīng)線TRX1～TRX40及TRY1～TRY40的大尺寸觸控面板14時(shí)，如圖2所示，則必須增加AI型陣列電容式觸控IC12可掃描的總感應(yīng)線數(shù)量，然而，觸控IC12每次對(duì)電容充放電所花費(fèi)的時(shí)間占整體觸控面板應(yīng)用上的取像速度的比例非常大，也就是說(shuō)取像速度問(wèn)題主要由IC12每個(gè)幀(frame)對(duì)電容充放電所決定，故以增加可掃描感應(yīng)線數(shù)的方法應(yīng)用于大尺寸觸控面板14將會(huì)有一非常大的缺點(diǎn)，就是整體應(yīng)用上的取像速度將會(huì)嚴(yán)重下降，進(jìn)而影響應(yīng)用端的效能。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的，在于提出一種電容式觸控裝置的檢測(cè)方法。

一種電容式觸控裝置包括一觸控面板具有多條感應(yīng)線以及多個(gè)觸控集成電路掃描該多條感應(yīng)線，其中該多條感應(yīng)線中的第N條感應(yīng)線連接該多個(gè)觸控集成電路中的第一觸控集成電路，該多條感應(yīng)線中的第N+1條感應(yīng)線連接該多個(gè)觸控集成電路中的第二觸控集成電路。根據(jù)本發(fā)明，一種該電容式觸控裝置的檢測(cè)方法用以判斷在邊界處的該第N條感應(yīng)線的感應(yīng)量。

在一實(shí)施例中，該檢測(cè)方法包括以該第N條感應(yīng)線前后幾條感應(yīng)線的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換值來(lái)取得該第N條感應(yīng)線的感應(yīng)量。

在另一實(shí)施例中，該檢測(cè)方法是先對(duì)該第N條感應(yīng)線進(jìn)行充放電以取得一第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換值，再由該第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換值得到一第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換值作為該第N條感應(yīng)線的感應(yīng)量，其中該第二模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換值為該第一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換值的函數(shù)。

在又一實(shí)施例中，該檢測(cè)方法包括每一該觸控集成電路每次只使用一條感應(yīng)線行充放電以取得一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換值，并且利用該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換值決定所使用的感應(yīng)線的感應(yīng)量。

該電容式觸控裝置的檢測(cè)方法是用以判斷在邊界處的感應(yīng)線的感應(yīng)量，以避免邊界處的感應(yīng)線的感應(yīng)量有不正確或是偏小的情形。

附圖說(shuō)明

圖1顯示傳統(tǒng)應(yīng)用在小尺寸觸控面板的AI型陣列電容式感測(cè)技術(shù)；

圖2顯示傳統(tǒng)應(yīng)用在大尺寸觸控面板的AI型陣列電容式感測(cè)技術(shù)；

圖3顯示一種使用二顆以上AI型陣列電容式觸控IC掃描觸控面板的電容式觸控裝置；

圖4顯示圖3的局部放大圖；

圖5顯示解決邊界問(wèn)題的第一實(shí)施例；

圖6顯示解決邊界問(wèn)題的第二實(shí)施例；以及

圖7顯示解決邊界問(wèn)題的第三實(shí)施例。

附圖標(biāo)號(hào)：

10????觸控面板

12????觸控IC

14????觸控面板

20????電容式觸控裝置

22????觸控面板

24????觸控IC

26????觸控IC

具體實(shí)施方式