[發明專利]具有用于進入不同于正常工作模式的模式的差分信號檢測電路的半導體裝置

無效

• 申請號: 200810092397.6
• 申請日: 2008-04-28
• 公開（公告）號: CN101294992A
• 公開（公告）日: 2008-10-29
• 發明（設計）人: 林健太郎;堀良彥
• 申請（專利權）人: 恩益禧電子股份有限公司
• 主分類號: G01R19/165
• 分類號: G01R19/165
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 陸錦華;郇春艷

1.一種半導體裝置，包括：

接收差分信號的多個輸入端；

差分電路，與所述輸入端相連接，以接收所述差分信號；以及

檢測電路，當具有預定狀態的所述差分信號被輸入至所述輸入端 時，該檢測電路輸出檢測信號，

其中所述差分電路在電輸入標準的范圍內工作，以及一旦檢測到 所述差分信號落在所述標準之外，所述檢測電路輸出所述檢測信號， 并且

其中所述檢測電路檢測所述多個輸入端中的第一對輸入端的中點 電壓與所述多個輸入端中的第二對輸入端的中點電壓之間的差值。

2.一種半導體裝置，包括：

接收差分信號的多個輸入端；

差分電路，與所述輸入端相連接，以接收所述差分信號；以及

檢測電路，當具有預定狀態的所述差分信號被輸入至所述輸入端 時，該檢測電路輸出檢測信號，

其中所述差分電路在電輸入標準的范圍內工作，以及一旦檢測到 所述差分信號落在所述標準之外，所述檢測電路輸出所述檢測信號， 并且

其中所述檢測電路在接收所述多個輸入端中的第一對所述輸入端 處的所述標準之外的差分信號的中點電壓的同時，接收所述多個輸入 端中的第二對所述輸入端處的所述標準之內的差分信號的中點電壓。

3.根據權利要求2所述的半導體裝置，還包括：

在所述第一對所述輸入端之間串聯連接的第一組兩個電阻器；以 及

在所述第二對所述輸入端之間串聯連接的第二組兩個電阻器，其 中

所述檢測電路接收所述第一組兩個電阻器之間的節點的電壓和所 述第二組兩個電阻器之間的節點的電壓。

4.一種半導體裝置，包括：

接收差分信號的多個輸入端；

差分電路，與所述輸入端相連接，以接收所述差分信號；以及

檢測電路，當具有預定狀態的所述差分信號被輸入至所述輸入端 時，該檢測電路輸出檢測信號，

其中所述差分電路在電輸入標準的范圍內工作，以及一旦檢測到 所述差分信號落在所述標準之外，所述檢測電路輸出所述檢測信號， 并且

其中所述檢測電路檢測在所述多個輸入端中的第一對所述輸入端 之一上的信號與所述多個輸入端中的第二對所述輸入端之一上的信號 之間的差分差值。

5.一種半導體裝置，包括：

接收差分信號的多個輸入端；

差分電路，與所述輸入端相連接，以接收所述差分信號；以及

檢測電路，當具有預定狀態的所述差分信號被輸入至所述輸入端 時，該檢測電路輸出檢測信號，

其中所述差分電路在電輸入標準的范圍內工作，以及一旦檢測到 所述差分信號落在所述標準之外，所述檢測電路輸出所述檢測信號， 并且

其中所述檢測電路在檢測所述多個輸入端中的第一對所述輸入端 處的所述標準之外的差分信號的振幅的同時，檢測所述多個輸入端中 的第二對所述輸入端處的所述標準之內的差分信號的振幅。

6.根據權利要求5所述的半導體裝置，其中所述檢測電路接收所 述第一對之一處的振幅電壓和所述第二對之一處的振幅電壓。

7.一種半導體裝置，包括：

接收差分信號的多個輸入端；

差分電路，與所述輸入端相連接，以接收所述差分信號；以及

檢測電路，當具有預定狀態的所述差分信號被輸入至所述輸入端 時，該檢測電路輸出檢測信號，

其中所述差分電路在電輸入標準的范圍內工作，以及一旦檢測到 所述差分信號落在所述標準之外，所述檢測電路輸出所述檢測信號， 并且

其中所述檢測電路檢測所述多個輸入端中的第一對所述輸入端的 振幅和所述多個輸入端中的第二對所述輸入端的振幅之間的差值。

8.根據權利要求7所述的半導體裝置，其中所述檢測電路在檢測 所述第一對所述輸入端處的所述標準之外的差分信號的振幅的同時， 檢測所述第二對所述輸入端處的所述標準之內的差分信號的振幅。

9.一種半導體裝置，包括：

接收差分信號的多個輸入端；

差分電路，與所述輸入端相連接，以接收所述差分信號；以及

檢測電路，當具有預定狀態的所述差分信號被輸入至所述輸入端 時，該檢測電路輸出檢測信號，

其中所述差分電路在電輸入標準的范圍內工作，以及一旦檢測到 所述差分信號落在所述標準之外，所述檢測電路輸出所述檢測信號， 并且

其中所述檢測電路接收所述多個輸入端中的第一對所述輸入端之 一處的振幅電壓和所述多個輸入端中的第二對所述輸入端之一處的振 幅電壓。