[發明專利]圖案化光致抗蝕劑層的形成方法無效
| 申請號: | 200810092229.7 | 申請日: | 2008-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN101561627A | 公開(公告)日: | 2009-10-21 |
| 發明(設計)人: | 黃萌祺;林正軒;張復瑜 | 申請(專利權)人: | 財團法人工業技術研究院 |
| 主分類號: | G03F7/00 | 分類號: | G03F7/00;G03F7/26;G03F7/004 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 彭久云 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖案 化光致抗蝕劑層 形成 方法 | ||
1.一種圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,包括:
提供基板,該基板具有上表面及下表面;
形成光致抗蝕劑層于該基板的上表面上;
提供透光層于該光致抗蝕劑層上;
提供遮光層于該透光層上;
提供曝光源,經該遮光層及該透光層后曝光該光致抗蝕劑層;以及
顯影該光致抗蝕劑層以形成圖案化光致抗蝕劑層,且該圖案化光致抗蝕劑層與該基板具有非垂直接觸角。
2.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該非垂直接觸角介于15度至85度之間。
3.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該非垂直接觸角介于95度至165度之間。
4.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該非垂直接觸角為圓弧。
5.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該光致抗蝕劑層包括正光致抗蝕劑或負光致抗蝕劑。
6.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該遮光層為掩模。
7.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該遮光層形成于該透光層上。
8.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該透光層包括玻璃、銦錫氧化物、聚甲基丙酰酸甲酯、聚碳酸酯、聚苯對二甲酸乙二醇酯、或上述的組合。
9.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該透光層的厚度為0.1-1mm,且該非垂直接觸角介于60度至85度之間或95度至115度之間。
10.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該透光層為1-2mm,且該非垂直接觸角介于45度至70度之間或110度至130度之間。
11.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該透光層為2-3mm,且該非垂直接觸角介于30度至60度之間或120度至140度之間。
12.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該透光層為3-4mm,且該非垂直接觸角介于20度至50度之間或130度至150度之間。
13.如權利要求1所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該透光層為4-5mm,且該非垂直接觸角介于15度至40度之間或140度至165度之間。
14.一種圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,包括:
提供透光基板,該透光基板具有上表面及下表面;
形成光致抗蝕劑層于該透光基板的上表面上;
提供透光層于該透光基板的下表面下;
提供遮光層于該透光層下;
提供曝光源,經該遮光層、該透光層、及該透光基板后曝光該光致抗蝕劑層;以及
顯影該光致抗蝕劑層以形成圖案化光致抗蝕劑層,且該圖案化光致抗蝕劑層與該透光基板具有非垂直接觸角。
15.如權利要求14所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該非垂直接觸角介于15度至85度之間。
16.如權利要求14所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該非垂直接觸角介于95度至165度之間。
17.如權利要求14所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該非垂直接觸角為圓弧。
18.如權利要求14所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該光致抗蝕劑層包括正光致抗蝕劑或負光致抗蝕劑。
19.如權利要求14所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該遮光層為掩模。
20.如權利要求14所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該遮光層形成于該透光層上。
21.如權利要求14所述的圖案化光致抗蝕劑層的形成方法,其中該透光層包括玻璃、銦錫氧化物、聚甲基丙酰酸甲酯、聚碳酸酯、聚苯對二甲酸乙二醇酯、或上述的組合。
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