[發(fā)明專利]多表面檢測(cè)系統(tǒng)及方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810091353.1 | 申請(qǐng)日: | 2008-04-07 | 
| 公開(公告)號(hào): | CN101290211A | 公開(公告)日: | 2008-10-22 | 
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 阿曼努拉·阿杰亞拉里;葛漢成;陳發(fā)齊;黎慶添 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | ASTI控股有限公司 | 
| 主分類號(hào): | G01B11/00 | 分類號(hào): | G01B11/00;G02B5/04 | 
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 | 代理人: | 王敏杰 | 
| 地址: | 新加坡25加冷*** | 國(guó)省代碼: | 新加坡;SG | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 表面 檢測(cè) 系統(tǒng) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種組件檢測(cè)系統(tǒng),特別涉及一種多表面檢測(cè)系統(tǒng)及方法,該系統(tǒng)及其方法不需要放置待檢測(cè)組件在檢測(cè)設(shè)備內(nèi)。
背景技術(shù)
眾所周知,可使用單組圖像數(shù)據(jù)來檢測(cè)一個(gè)組件的多個(gè)表面。然而,現(xiàn)有的實(shí)現(xiàn)上述檢測(cè)的方法和系統(tǒng)需要放置組件在檢測(cè)裝置內(nèi),例如降低或升高組件進(jìn)入檢測(cè)位置。同時(shí)一些系統(tǒng)和方法允許使用檢測(cè)裝置來執(zhí)行一些檢測(cè)進(jìn)程,上述檢測(cè)裝置被放置在待檢測(cè)組件的上方或下方,上述系統(tǒng)和方法的不同表面的圖像數(shù)據(jù)不處于同一焦平面上,并且上述圖像數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的面積明顯大于待檢測(cè)組件總表面積。因此,上述系統(tǒng)及方法的解析度較低,或者需要具有不同焦距的不同的圖像數(shù)據(jù)生成系統(tǒng)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明公開了一種執(zhí)行組件多表面檢測(cè)的系統(tǒng)和方法,上述系統(tǒng)和方法彌補(bǔ)了執(zhí)行組件多表面檢測(cè)系統(tǒng)和方法中存在的已知難題。
具體而言,本發(fā)明公開了一個(gè)執(zhí)行組件多表面檢測(cè)的系統(tǒng)和方法,上述系統(tǒng)和方法能提供高解析度并允許從每一個(gè)表面上生成包含有圖像數(shù)據(jù)的單組圖像數(shù)據(jù),而不需要補(bǔ)償不同的焦距。
本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例公開了一個(gè)檢測(cè)組件的系統(tǒng)。所述的系統(tǒng)包含一個(gè)棱鏡,該棱鏡具有第一末端、第二末端、第一反射面和第二反射面。所述棱鏡的第一末端位于一個(gè)平面上,該平面與一組檢測(cè)片段中的一個(gè)或多個(gè)片段所在平面相互平行并軸向分離開。在遠(yuǎn)離棱鏡第二末端的位置放置一個(gè)圖像數(shù)據(jù)系統(tǒng),用于生成檢測(cè)片段組中的一個(gè)或多個(gè)片段的圖像數(shù)據(jù),包括:檢測(cè)片段組中的至少一個(gè)片段的頂表面、檢測(cè)片段組中的至少一個(gè)片段的至少一側(cè)面。采用一個(gè)檢測(cè)片段傳送系統(tǒng),如拾取和放置工具、運(yùn)送裝置,來移動(dòng)一組檢測(cè)片段越過貫穿檢測(cè)面積的棱鏡第一末端。
本發(fā)明提供了許多重要的技術(shù)改進(jìn)。本發(fā)明一個(gè)重要的技術(shù)改進(jìn)是提供一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng),該檢測(cè)系統(tǒng)利用具有兩個(gè)反射面的棱鏡,以補(bǔ)償不同檢測(cè)表面間的焦距不同,并允許檢測(cè)表面被放置的盡可能接近彼此,從而增加圖像數(shù)據(jù)的分辨率。
通過參考附圖閱讀以下的詳細(xì)描述,本領(lǐng)域的技術(shù)人員將會(huì)進(jìn)一步理解本發(fā)明的優(yōu)勢(shì)、出眾的特征以及本發(fā)明其他的重要方面。
附圖說明
圖1是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的用于檢測(cè)物體的系統(tǒng)的示意圖。
圖2是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的棱鏡的示意圖。
圖3是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的用于檢測(cè)物體的系統(tǒng)的示意圖。
圖4是根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的檢測(cè)系統(tǒng)的示意圖。
圖5是根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的檢測(cè)物體的方法流程圖,該檢測(cè)物體的方法采用棱鏡檢測(cè)系統(tǒng),所述的棱鏡避免了對(duì)檢測(cè)片軸向移動(dòng)的需要。
具體實(shí)施方式
在以下的敘述中,在說明書和附圖中對(duì)相同的部件分別采用相同的數(shù)字標(biāo)注。附圖的外形并非按比例,某些部件以概圖或示意圖的形式表現(xiàn),并且出于清楚及簡(jiǎn)明的目的,上述部件用商品名命名。
實(shí)施例的系統(tǒng)100的一個(gè)圖表,所述的系統(tǒng)100用于檢測(cè)物體。所述的系統(tǒng)100允許使用單組圖像數(shù)據(jù)來檢測(cè)一個(gè)物體的頂面和側(cè)面。在說明書的詳細(xì)敘述以及權(quán)利要求中使用詞語“頂面”以指定組件中直接面對(duì)照相機(jī)或其他圖像數(shù)據(jù)生成系統(tǒng)的那個(gè)表面,盡管那個(gè)表面可能是組件實(shí)際使用時(shí)的底部或一個(gè)側(cè)面。
所述的系統(tǒng)100包括檢測(cè)片段102和棱鏡104。配置棱鏡104以沿虛線106所示的路徑來反射光線,而從可以從棱鏡104的底面118處看到待檢測(cè)片段102的側(cè)面。通過該方法,照相機(jī)或其他生成圖像數(shù)據(jù)的裝置可以生成檢測(cè)片段102頂面以及檢測(cè)片段側(cè)面的圖像數(shù)據(jù),正如從棱鏡104底面118處沿虛線106箭頭所示方向看到的一樣。
同時(shí)也可用鏡子生成這些圖像數(shù)據(jù),鏡子的不足在于,從檢測(cè)片段102側(cè)面到與棱鏡104底面118平行的一個(gè)位置的路徑的焦距將會(huì)大于從檢測(cè)片段102頂面到檢測(cè)片段102頂面的觀察框架116的路徑的焦距,所述的觀察框架116同樣平行與棱鏡104底面118.
而且,如果使用一個(gè)鏡子生成檢測(cè)片段102側(cè)面的圖像,圖像區(qū)域?qū)?huì)變大。在一個(gè)實(shí)施例中,需要為檢測(cè)片段102頂面和從鏡子得到的檢測(cè)片段102側(cè)面圖像之間的間距,生成大量的圖像數(shù)據(jù)像素。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于ASTI控股有限公司,未經(jīng)ASTI控股有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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