[發明專利]透明件表面裂紋圖像采集探頭

無效

• 申請號: 200810088934.X
• 申請日: 2008-04-08
• 公開（公告）號: CN101598679A
• 公開（公告）日: 2009-12-09
• 發明（設計）人: 彭春
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍空軍裝備研究院航空裝備研究所
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958;G02B5/04;G01B3/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種透明件表面裂紋圖像采集探頭，裂紋圖像經過光線傳播而聚焦，其特征是：在透明件表面裂紋與攝像頭之間的光路上加裝基準標尺、反射棱鏡和凸透鏡，調焦外筒與攝像頭連接。

2.根據權利要求1所述的透明件表面裂紋圖像采集探頭，其特征為：反射棱鏡有三個工作面，其中下傾斜面為光線入射面，鍍有反光涂層的右傾斜面為反射面，上平面為光線出射面。

3.根據權利要求1所述的透明件表面裂紋圖像采集探頭，其特征為：基準標尺可分為帶刻度的工作區和不帶刻度的非工作區，工作區的上、下表面都要拋光，刻度在下表面，非工作區不需要拋光。