[發明專利]檢測壞像素的方法和裝置以及捕獲圖像的方法和裝置

有效

• 申請號: 200810088410.0
• 申請日: 2008-03-26
• 公開（公告）號: CN101277385A
• 公開（公告）日: 2008-10-01
• 發明（設計）人: 辛成基;金在錫;金東郁;李炯漢;李元宰;安志勛
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: H04N5/217
• 分類號: H04N5/217;H04N17/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 錢大勇

技術領域

本發明一般概念涉及一種檢測圖像傳感器的壞像素(dead?pixel)的方法和裝置以及一種從圖像傳感器中捕獲圖像的方法和裝置。本發明一般概念也涉及一種在生產線上以及在生產和發貨之后快速而精確地檢測圖像傳感器中的壞像素的方法和裝置，以及一種從圖像傳感器中捕獲圖像的方法和裝置。

背景技術

通常，諸如數碼相機的圖像捕獲設備包括利用半導體的感光特性來捕獲圖像的圖像傳感器。

圖像傳感器的每個像素將通過光學系統入射的光轉換為根據入射光線強度而改變的電信號(例如電壓信號)。因此，可以以像素為單位形成圖像。

由于各種原因，在生產圖像傳感器的過程中經常產生缺陷(defective)像素。這些像素不能夠正常地感光，并且具有這種異常像素的圖像傳感器可能輸出失真圖像。不能正常感光的像素常常比其應該展現出的顯得更亮或更暗。傳統上，將具有與相鄰像素的亮度顯著不同的亮度的那些像素稱為“壞像素”。

圖像傳感器中壞像素的數量決定了圖像傳感器的質量或等級。也就是說，壞像素的數量越少，圖像傳感器的質量越好。由壞像素所引起的錯誤在屏幕上以小點或線的形式來表示。如果將全部帶有這種局部錯誤的圖像傳感器芯片確定為不可接受的芯片，則可能降低圖像傳感器的產量。

為了防止產量的下降，可以對所檢測出的圖像傳感器的壞像素進行修正，而不是丟掉帶有這種壞像素的圖像傳感器。

然而，檢測壞像素的傳統過程是在一個屏幕內或者利用一張測試模板來執行。但是，用這種傳統過程經常將許多正常的像素識別為壞像素。

為了增強質量控制，可以使用許多測試模板來檢測所有的壞像素。然而，考慮時間和成本不希望采用這種過程。

另外，利用一張或幾張測試模板來檢測壞像素需要特殊的設備或生產過程，并且迄今為止，沒有能夠用于檢測在最初的檢測過程之后而可能出現缺陷的壞像素的辦法。

發明內容

本發明一般概念提供了一種在生產線上以及在生產和發貨之后快速而精確地檢測圖像傳感器中的壞像素的方法和裝置、以及一種從圖像傳感器捕獲圖像的方法和裝置。

本發明一般概念的其它方面和效果將在下面的描述中得到部分闡述，其部分從所述描述中將是顯而易見的，或者可以通過對本發明一般概念的實踐而學習到。

可以通過提供一種用于檢測具有像素陣列以產生多個圖像幀的圖像傳感器中的壞像素的方法來獲得本發明概念的前述和/或其它方面和效果。所述方法包括：感測第一和第二圖像幀集合之間的場景變化，每個圖像幀集合包括所述多個圖像幀中的至少一個；以及如果感測到所述場景的變化，則檢測像素陣列中是否存在壞像素。

也可以通過提供一種用于檢測在具有像素陣列以產生多個圖像幀的圖像傳感器中的壞像素的裝置來獲得本發明概念的前述和/或其他方面和效果。所述裝置包括：場景變化感測單元，感測第一和第二圖像幀集合之間的場景變化，每個圖像幀集合包括所述多個圖像幀的至少一個；以及壞像素檢測單元，用于如果所述場景變化感測單元感測到所述場景變化，則檢測像素陣列中的壞像素。

也可以通過提供一種從具有像素陣列以產生多個圖像幀的圖像傳感器中捕獲圖像的方法來獲得本發明概念的前述和/或其它方面和效果。所述方法包括：感測第一和第二圖像幀集合之間的場景變化，每個圖像幀集合包括所述多個圖像幀的至少一個；如果感測到所述場景變化，則檢測像素陣列中是否存在壞像素；存儲所檢測到的像素陣列中的壞像素的位置信息；以及基于所檢測的壞像素的位置信息來修正圖像數據。

也可以通過提供一種從具有像素陣列以產生多個圖像幀的圖像傳感器中捕獲圖像的裝置來獲得本發明概念的前述和/或其它方面和效果。所述裝置包括：場景變化感測單元，感測第一和第二圖像幀集合之間的場景變化，每個圖像幀集合包括所述多個圖像幀的至少一個；壞像素檢測單元，用于如果所述場景變化感測單元感測到場景變化，則檢測像素陣列中的壞像素；存儲單元，存儲所檢測到的像素陣列中的壞像素的位置信息；以及修正單元，基于所檢測的壞像素的位置信息來修正圖像數據。