[發明專利]發光顯示裝置

無效

• 申請號: 200810087884.3
• 申請日: 2008-03-27
• 公開（公告）號: CN101277561A
• 公開（公告）日: 2008-10-01
• 發明（設計）人: 日置耕作;小川隆司
• 申請（專利權）人: 三洋電機株式會社;三洋半導體株式會社
• 主分類號: H05B33/08
• 分類號: H05B33/08;H05B33/14;G09F9/35;G09G3/36
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 李香蘭

技術領域

本發明涉及在各個像素中具備電致發光元件等發光元件的發光顯示裝置以及具備該發光顯示裝置的顯示散差校正的顯示裝置。

背景技術

在各個像素的顯示元件中采用作為自發光元件的電致發光元件(以下稱為EL元件)等的發光顯示裝置，正在研究開發期待成為下一代的平板顯示裝置。

在這樣的發光顯示裝置中，在玻璃或塑料等基板上形成EL元件和用于按照每個像素驅動該EL元件的薄膜晶體管(TFT)等從而作成EL面板，然后經由多次的檢查作為產品出廠。

在當前的有源矩陣型EL顯示裝置中，各個像素中具備TFT，會發生起因于該TFT的顯示不均、特別是由于TFT的閾值Vth的散差而發生EL元件的亮度散差，是導致成品率低的主要原因。提高這樣產品的成品率是非常重要的，要求根據元件設計、材料、制造方法等的改良來降低顯示缺陷或顯示不均(顯示散差)，而且，在特開2005-316408號公報(以下，專利文獻1)等當中，嘗試在發生顯示不均等情況下，通過對其進行校正使其成為良品面板。

在專利文獻1中提出了如下的方案：使EL元件發光來測量其亮度散差，對供給到像素的數據信號(視頻信號)進行校正。另外，作為其他方法提出了對各個像素安裝用于校正對在EL元件中流動的電流進行控制的元件驅動晶體管Vth的散差的電路的方案。

如專利文獻1那樣使EL面板發光、用照相機對其進行拍攝來測量亮度散差的方法，在出廠后不能執行，對于面板隨時間變化等所需要的校正不能實行。另外，在EL面板高精細化而像素數量增大時，為了按照各個像素測量其亮度散差需要增加測量和校正對象，需要照相機的高分辨率、擴大校正信息的各個存儲部的容量等。

另外，即使Vth補償用的電路元件未安裝在像素中的情況下，也強烈要求校正起因于TFT的Vth的散差的顯示不均，特別是希望經常執行這樣的校正。

發明內容

本發明的目的在于，提供一種即使是在出廠后，也能夠測量顯示散差，對該顯示散差進行校正的發光顯示裝置。

本發明技術方案一的發光顯示裝置，具備：顯示部，其具備矩陣配置的多個像素；散差檢測部，其檢測在各個像素中的顯示散差的檢查結果；和校正部，其用于校正顯示散差，上述顯示部的上述多個像素的每一個具備：電致發光元件；元件驅動晶體管，其與該電致發光元件連接，并用于控制在該電致發光元件中流動的電流，上述散差檢測部，具備：檢查用信號發生部，其發生用于供給到檢查行的像素的檢查用信號，且在與視頻信號對應的顯示的執行中的規定時刻(timing)，將該檢查用信號供給到上述檢查行的像素；電流檢測部，其檢測按照上述檢查用信號所產生的在上述電致發光元件中流動的電流并輸出電流檢測信號；和存儲部，其存儲與上述電流檢測信號對應的數字數據，在上述校正部中，基于上述存儲部中所存儲的數字數據，對根據視頻信號得到的數字數據信號進行與上述多個像素的各個特性相對應的散差校正，生成用于供給到上述多個像素的顯示數據信號，在上述存儲部中，按照上述電流檢測信號的特性，存儲比上述顯示數據信號比特數少的數字數據。

本發明的另一技術方案為一種發光顯示裝置，具備：顯示部，其具備矩陣配置的多個像素；散差檢測部，其檢測在各個像素中的顯示散差的檢查結果；校正部，其用于校正顯示散差，上述顯示部的上述多個像素的每一個具備：發光元件；元件驅動晶體管，其與該發光元件連接，用于控制在該電致發光元件中流動的電流，上述散差檢測部具備：檢查用信號發生部，其發生將上述發光元件置于發光電平的檢查用導通信號和將上述發光元件置于不發光電平的檢查用截止信號，作為供給到檢查行的像素的檢查用信號；電流檢測部，其檢測上述檢查用導通信號施加時在上述發光元件中流動的導通電流和上述檢查用截止信號施加時的截止電流，求得導通電流檢測信號和截止電流檢測信號；模擬數字變換部，其將上述導通電流檢測信號和上述截止電流檢測信號分別變換為數字數據；和存儲部，其存儲與數字導通電流檢測信號和數字截止電流檢測信號之間的導通截止電流差對應的數字數據，在上述校正部中，基于與上述導通截止電流差對應的數字數據，對根據視頻信號得到的數字數據信號進行與上述多個像素的各個特性對應的散差校正，而生成用于供給到上述多個像素的顯示數據信號，上述存儲部中存儲的與上述導通截止電流差對應的數字數據的比特數比上述顯示數據信號的比特數少。