[發明專利]格式化/測試通用序列總線裝置的方法

無效

• 申請號: 200810087787.4
• 申請日: 2008-03-31
• 公開（公告）號: CN101409111A
• 公開（公告）日: 2009-04-15
• 發明（設計）人: 周圭璋;馬治剛;李威若;沈明祥
• 申請（專利權）人: 智多星電子科技有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 孫皓晨

1.一種格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于：其是利用一含有計算系統的測試主機實現的，所述的方法是包括：

耦接復數USB裝置至所述的測試主機，每一所述的USB裝置包括一快閃控制器與至少一個閃存裝置，其中每一所述的USB裝置包括一擴充的USB連接器插頭，耦接一印刷電路版裝置或耦接一板上芯片，其具有至少一個閃存裝置與快閃控制器，其中所述的擴充USB連接器插頭包括：

一擴充接腳基板，具有一擴充長度，其大于或等于標準USB連接器插頭的接腳基板的標準長度；

復數插頭的標準金屬接觸接腳，位于所述的接腳基板上，所述的擴充USB連接器插頭的標準接腳基板插入標準USB插槽的一凹槽內，標準金屬接觸接腳與所述的插頭標準金屬接觸接腳實質電性接觸；與

復數插頭擴充金屬接觸接腳位于所述的擴充接腳基板上，所述的擴充USB連接器插頭的所述的擴充接腳基板插入擴充USB插槽的一凹槽內，使位于所述的擴充接腳基板上的所述的插頭擴充金屬接觸接腳與位于所述的擴充USB插槽上的插槽擴充金屬接觸接腳實質電性接觸；

從每一所述的USB裝置讀取至少一控制器端點描述符值，核對每一所述的USB裝置的所述的控制器端點描述符值是與儲存在所述的測試主機的描述符值相配；與

對具有一有效端點描述符值的每一所述的USB裝置格式化/測試，通過以管線方式將預定數據寫入至閃存裝置內，之后從所述的閃存裝置內讀取所述的預定數據，將受讀取的所述的預定數據與存在所述的測試主機的已知良好數據值比較。

2.根據權利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于：還包括安裝一USB驅動器至所述的測試主機，指示所述的計算機系統一旦偵測所述的USB裝置就阻止標準的USB注冊流程。

3.根據權利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于：還包括設置所述的USB裝置，使所述的USB裝置連接至一面板。

4.根據權利要求3所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于：在所述的USB裝置連接至所述的面板之前，還包括單一化所述的面板，或在連續格式化/測試所有所述的USB裝置后，單一化所述的面板。

5.根據權利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于：從每一所述的USB裝置讀取所述的控制器端點描述符值的步驟，其括讀取至少一組態描述符值、一大量儲存類別碼值、一供貨商辨識值與一產品辨識值。

6.根據權利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于：還包括顯示一相對應的有色旗標在所述的測試主機的一監視器上，以核對存在每一所述的USB裝置的所述的控制器端點描述符值是與所述的儲存的描述符值相配。

7.根據權利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于：在所述的格式化/測試步驟中，其包括掃瞄儲存在所述的閃存裝置的不良區塊數據，以及核對每個閃存裝置的儲備儲存容量是等于一預定大小。

8.根據權利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于：在所述的格式化/測試步驟中，其包括寫入至少兩不良區域數據副本至所述的閃存裝置的預定區塊中，其中所述的不良區域數據是辨識在所述的閃存裝置上的不良區塊。

9.根據權利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于：所述的閃存裝置包括復數個非揮發性記憶單元，其為一單一層單元類型或一多層單元類型。

10.根據權利要求1所述的格式化/測試通用序列總線裝置的方法，其特征在于：所述的測試/格式化包括寫入至少一句柄數據與啟動碼數據，或寫入使用者所提供的數據，或寫入還新序號、日期碼、產品版本碼數值至所述的閃存裝置的預定區塊中。