[發明專利]高密度只讀光盤及使用光盤的光盤設備和方法

有效

• 申請號: 200810087289.X
• 申請日: 2003-04-30
• 公開（公告）號: CN101266805A
• 公開（公告）日: 2008-09-17
• 發明（設計）人: 金進鏞;樸景燦;徐相運;申允燮
• 申請（專利權）人: LG電子株式會社
• 主分類號: G11B7/007
• 分類號: G11B7/007
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 夏凱;鐘強

1.一種用于讀取具有引入區、數據區和引出區的記錄介質的方法，該方法包括：利用沿著特定記錄模式而形成的抖動的凹坑，所述特定記錄模式被包括在所述引入區中且通過應用雙相調制方法來調制，其中，所述特定記錄模式包括在預定的時期內存在轉換的第一段和在預定的時期不存在所述轉換的第二段。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述利用步驟包括以下步驟：讀取所述特定記錄模式的控制信息，并基于所述控制信息確定所述數據區的數據的再現。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，所述抖動的凹坑限定多個記錄段，每一記錄段具有36T的長度，這里T對應于信道比特的長度。

4.一種用于讀取具有引入區、數據區和引出區的記錄介質的設備，該設備包括：

光學拾取器，被配置用于讀取沿著特定記錄模式而形成的抖動的凹坑，所述特定記錄模式被包括在所述引入區中且通過應用雙相調制方法來調制；和

控制器，操作性地耦合到所述光學拾取器，被配置用于控制由所述光學拾取器讀取的數據的再現，

其中，所述光學拾取器適應于讀取沿著所述特定記錄模式而形成的所述抖動的凹坑，所述特定記錄模式包括在預定的時期內存在轉換的第一段和在預定的時期不存在所述轉換的第二段。

5.根據權利要求4所述的設備，其中，所述光學拾取器適應于再現所述特定記錄模式的控制信息。

6.根據權利要求5所述的設備，其中，所述控制器適應于基于由所述光學拾取器再現的所述控制信息控制所述數據區的再現，所述控制信息記錄在所述引入區的子區。

7.根據權利要求6所述的設備，進一步包括：

伺服系統，被配置用于以使用從所述光學拾取器的光檢測器檢測的信號差的方式，利用推挽方法控制所述光學拾取器的伺服操作。

8.一種記錄介質，該記錄介質包括：

數據區，包括用于主數據的直線凹坑；和

引入區，包括用于控制信息的抖動的凹坑，該抖動的凹坑沿著特定記錄模式而形成，所述特定記錄模式被包括在所述引入區中且通過應用雙相調制方法來調制，

其中，所述特定記錄模式包括在預定的時期內存在轉換的第一段和在預定的時期不存在所述轉換的第二段。

9.根據權利要求8所述的記錄介質，其中，所述特定記錄模式被包括在所述引入區的子區，該子區具有其上記錄和存儲的控制信息。

10.根據權利要求9所述的記錄介質，其中，所述抖動的凹坑在藍光光盤定義的所述引入區的永久信息&控制(PIC)數據區中沿著所述特定記錄模式形成。

11.根據權利要求10所述的記錄介質，其中，所述抖動的凹坑限定多個記錄段，每一記錄段具有36T的長度，這里T對應于信道比特的長度。

12.根據權利要求11所述的記錄介質，其中，所述具有36T長度的每一記錄段包括在記錄子段中連續地和重復地形成的、預定長度的標記和間隔組合。

13.根據權利要求9所述的記錄介質，其中，所述抖動的凹坑在特定記錄模式中從高到低或從低到高，在每一轉換點之前具有標記并且在每一轉換點之后具有間隔。

14.根據權利要求9所述的記錄介質，其中，所述抖動的凹坑在特定記錄模式中從高到低或從低到高，在每一轉換點之前具有間隔并且在每一轉換點之后具有標記。

15.根據權利要求12所述的記錄介質，其中，形成的間隔和標記中的至少一個被記錄為最小凹坑長度。

16.一種用于形成具有引入區、數據區和引出區的記錄介質的方法，該方法包括：

在所述引入區中，沿著特定記錄模式形成抖動的凹坑，所述特定記錄模式通過應用雙相調制方法來調制，

其中，所述特定記錄模式包括在預定的時期內存在轉換的第一段和在預定的時期不存在所述轉換的第二段。

17.根據權利要求16所述的方法，其中，所述特定記錄模式具有其上記錄和存儲的控制信息。

18.根據權利要求17所述的方法，其中，所述抖動的凹坑限定多個記錄段，每一記錄段具有36T的長度，這里T對應于信道比特的長度。

19.一種用于形成具有引入區、數據區和引出區的記錄介質的設備，該設備包括：

光學拾取器，被配置用于在所述引入區中沿著特定記錄模式形成抖動的凹坑，所述特定記錄模式通過應用雙相調制方法來調制；和

控制器，被配置用于控制通過所述光學拾取器形成所述抖動的凹坑，

其中，所述光學拾取器適應于沿著所述特定記錄模式形成所述抖動的凹坑，所述特定記錄模式包括在預定的時期內存在轉換的第一段和在預定的時期不存在所述轉換的第二段。