[發明專利]LCD玻璃基板檢測系統無效
| 申請號: | 200810087104.5 | 申請日: | 2008-03-19 |
| 公開(公告)號: | CN101539674A | 公開(公告)日: | 2009-09-23 |
| 發明(設計)人: | 葉公旭;蘇紀為;黃嘉興 | 申請(專利權)人: | 東捷科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/13 | 分類號: | G02F1/13;G01M11/00;G01M11/02 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人: | 周長興 |
| 地址: | 臺灣省*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | lcd 玻璃 檢測 系統 | ||
1、一種LCD玻璃基板檢測系統,包含有:
一上部檢測機構,具有一攝影鏡頭,該攝影鏡頭朝下且內部設有一上偏光膜,該上偏光膜使光線的軸向僅在預定方向通過,使該攝影鏡頭所取得的影像經過該上偏光膜來進行取像,以進行檢測;以及
一檢測平臺,位于該上部檢測機構的下方,用以固定一待檢測LCD玻璃基板。
2、依據權利要求1所述的LCD玻璃基板檢測系統,其中:該檢測平臺所承接的待檢測LCD玻璃基板,底面貼設有一Y偏光膜下偏光膜,該Y偏光膜下偏光膜使光線的軸向僅在另一預定方向通過,其中該下偏光膜所通過的光線軸向角度與該上偏光膜所通過的光線軸向角度相夾預定角度。
3、一種LCD玻璃基板檢測系統,包含有:
一下部檢測機構,具有一攝影鏡頭,該攝影鏡頭朝上且內部設有一下偏光膜,該下偏光膜使光線的軸向僅在預定方向通過,使該攝影鏡頭所取得的影像經過該下偏光膜來進行取像,以進行檢測;以及
一檢測平臺,位于該下部檢測機構的上方,用以固定一待檢測LCD玻璃基板。
4、依據權利要求3所述的LCD玻璃基板檢測系統,其中:該檢測平臺所承接的待檢測LCD玻璃基板,頂面貼設有一上偏光膜,該上偏光膜使光線的軸向僅在另一預定方向通過,其中該上偏光膜所通過的光線軸向角度與該下偏光膜所通過的光線軸向角度相夾預定角度。
5、一種LCD玻璃基板檢測系統,包含有:
一上部檢測機構,具有一攝影鏡頭,該攝影鏡頭朝下且內部設有一上偏光膜,該上偏光膜使光線的軸向僅在預定方向通過,使該攝影鏡頭所取得的影像經過該上偏光膜來進行取像,以進行檢測;
一下部檢測機構,具有一攝影鏡頭,該攝影鏡頭朝上且內部設有一下偏光膜,該下偏光膜使光線的軸向僅在另一方向通過,使該攝影鏡頭所取得的影像經過該下偏光膜來進行取像,以進行檢測;以及
一檢測平臺,位于該上部檢測機構以及該下部檢測機構之間,用以固定一待檢測LCD玻璃基板;
其中該上偏光膜所通過的光線軸向角度與該下偏光膜所通過的光線軸向角度相夾預定角度。
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