[發明專利]用于確定輸出到比較器的輸入電壓值的方法及光驅動電路

有效

• 申請號: 200810086046.4
• 申請日: 2008-03-14
• 公開（公告）號: CN101266267A
• 公開（公告）日: 2008-09-17
• 發明（設計）人: 張安男;陳建銘
• 申請（專利權）人: 聯發科技股份有限公司
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R31/28;G01R31/02
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司
• 代理人: 任默聞

技術領域

本發明關于一個系統及其執行方法，特別是關于一種能夠提供精準的信號測量校準的光驅動系統及其執行方法，具體來說是關于一種用于確定輸出到比較器的輸入電壓值的方法及光驅動電路。

背景技術

眾所周知，在電路系統中，阻抗效應(Impedance?Effect)經常會導致信號測量結果不準確。阻抗效應的起因可能來自各種因素，例如包括對測試工具不當的測量操作、在測試中測試工具與被測物之間異類金屬的連接、周邊干擾或環境變動等等。對于目前的電路系統來說，具有信號測量的準確校準并能消除阻抗效應的能力已被視為重要的性能指標之一。

圖1A揭示了一個現有技術的光驅動電路系統，其包括自動功率控制(Automatic?Power?Control，APC)電路108、工作信號產生器101、反饋單元105及形成于系統1上的多個測量墊片106、107、109與110。工作信號產生器101包含發光裝置(如激光二極管(Laser?Diode，LD))與功率檢測器，例如光電二極管(Photodiode，PD)，用來監視發光裝置所發出的光線的輸出功率并基于上述輸出功率逐步輸出工作電壓“V_in”。自動功率控制(APC)電路108還包含比較單元102與數模轉換器(Digital?to?Analog?Converter，DAC)103，其中數模轉換器103可依據需要設定參考電壓“V_ref”，而比較單元102如同比較器(Comparator)具有兩個輸入1020、1021來接收工作電壓“V_in”和參考電壓“V_ref”、輸出1023依據工作電壓“V_in”和參考電壓“V_ref”之間的對比結果而輸出目標電壓“V_target”給激光二極管輸出(Laser?Diode?Output，LDO)，以及節點1022分別連接到用于信號測量的兩個測量墊片106和107。由于兩個測量墊片106、107連接到比較單元102的節點1022的電路配置，將使測量墊片106、107?與節點1022之間自然產生兩個走線阻抗(Trace?Resistance)，如電阻“Rin1”與“Rin2”。

反饋單元105從比較單元102接收到目標電壓“V_target”，然后基于目標電壓“V_target”的電平變化，產生電流控制信號來調整工作信號產生器101的輸出工作電壓“V_in”的邏輯電平。若工作電壓“V_in”達到一個特定條件，例如擁有相同于參考電壓“V_ref”的值/電平，則比較單元102的目標電壓“V_target”的輸出可被反轉成第一邏輯電平(例如低邏輯電平)來保持工作信號產生器101(其對于下一個操作周期未改變)的工作電壓“V_in”輸出的電平；否則，比較單元102的目標電壓“V_target”輸出將可能位于第二邏輯電平(例如高邏輯電平)，用來在下一個操作周期中，指示/切換反饋單元105逐步更改工作信號產生器101的工作電壓“V_in”輸出的電平。

在自動功率控制(APC)電路108與工作信號產生器101和反饋單元105電性連接之前，需要作信號測量校準，來減小自動功率控制電路108上可預見的阻抗效應。測試工具104如參數測量單元(Parameter?Measuring?Unit，PMU)或伏特計會連著多個探針，其中包括兩個分別接觸測量墊片106與107的探針(未圖示)，是用于測出測量墊片107上的電壓值來作為信號校準用的。類似的，在探針與各自測量墊片106、107之間出現非理想化的接觸，則兩個接觸阻抗(Contacting?Resistance)如電阻“Rin3”和“Rin4”將在探針與各自測量墊片106、107之間自然產生。測試工具104將產生一個高阻抗輸入。此外，與測量墊片106相連接的其中一個探針是接地的。不過，在電路系統1中，各測量墊片106、107所占用的使用面積是被限定在大約50μm×50μm，并且探針之間的間距保持在大約40μm。