[發明專利]處理系統日志的裝置與處理系統日志的方法無效
| 申請號: | 200810085839.4 | 申請日: | 2008-03-21 |
| 公開(公告)號: | CN101482836A | 公開(公告)日: | 2009-07-15 |
| 發明(設計)人: | 張嘉洋;林佳慶 | 申請(專利權)人: | 聯發科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/14 | 分類號: | G06F11/14 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 | 代理人: | 任默聞 |
| 地址: | 臺灣省新竹*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 處理 系統 日志 裝置 方法 | ||
1.一種處理系統日志的裝置,其特征在于,所述的處理系統日志的裝置 包含:
緩沖器,用來儲存日志;
日志寄存器,包含一個比特;以及
核心單元,耦接至所述的緩沖器以及所述的日志寄存器,當檢測到所述 的比特被設定為真時,傳輸所述的日志至外部電子裝置。
2.根據權利要求1所述處理系統日志的裝置,其特征在于,所述的日志 包含就緒標志,并且在處理器執行的軟件程序將所述的日志完全寫入所述的 緩沖器之后,所述的處理器執行所述的軟件程序設置所述的就緒標志為真, 并且設定所述的比特為真。
3.根據權利要求1所述處理系統日志的裝置,其特征在于,所述的核心 單元有規則地監測所述的日志寄存器的所述的比特,以檢測所述的比特是否 被設定為真。
4.根據權利要求1所述處理系統日志的裝置,其特征在于,所述處理系 統日志的裝置更包含處理單元,自所述的核心單元接收所述的日志并且產生 相對應于所述的日志的處理結果,并且傳輸所述的處理結果至所述的核心單 元。
5.根據權利要求4所述處理系統日志的裝置,其特征在于,所述的處理 單元產生所述的日志的校驗和,壓縮所述的日志或者加密所述的日志。
6.根據權利要求1所述處理系統日志的裝置,其特征在于,所述的核心 單元反設定所述的日志寄存器的所述的比特。
7.根據權利要求1所述處理系統日志的裝置,其特征在于,所述的緩沖 器包含日志起始指針,用以指示所述的緩沖器的寫入的日志的起始位置,以及 日志結束指針用來指示所述的緩沖器的最后寫入的日志的下一字節。
8.根據權利要求7所述處理系統日志的裝置,其特征在于,由所述的處 理器執行軟件程序來判斷所述的緩沖器的空閑緩沖空間是否足夠用來儲存新 日志,如果判斷所述的緩沖器的空閑緩沖空間足夠用來儲存所述的新日志, 則所述的處理器產生所述的新日志并且自所述的日志結束指針指示的位置儲 存所述的新日志,以及移動所述的日志結束指針至所述的新寫入的日志的下 一字節。
9.根據權利要求7所述處理系統日志的裝置,其特征在于,所述的核心 單元根據所述的日志起始指針以及所述的日志結束指針來判斷所述的緩沖器 是否不包含等待處理的日志,如果包含等待處理的日志,所述的核心單元自 所述的緩沖器讀取日志,以及傳輸所述的日志至所述的外部電子裝置,并且 移動所述的日志起始指針至所述的傳輸的日志的下一字節。
10.一種處理系統日志的裝置,其特征在于,所述的處理系統日志的裝置 包含:
第一緩沖器,用來儲存第一日志;
第二緩沖器,用來儲存第二日志;
日志寄存器,包含第一比特以及第二比特;以及
第一核心單元,耦接至所述的第一緩沖器以及所述的日志寄存器,當檢 測到所述的第一比特被設定為真時,獲得并傳輸所述的第一日志至外部電子 裝置;
第二核心單元,耦接至所述的第二緩沖器以及所述的日志寄存器,當檢 測到所述的第二比特被設定為真時,獲得并傳輸所述的第二日志至所述的外 部電子裝置;以及
仲裁器,耦接至所述的第一核心單元以及所述的第二核心單元,依據所 述的第一核心單元與所述的第二核心單元的優先等級規則決定提供總線控制 給所述的第一核心單元或者給所述的第二核心單元。
11.根據權利要求10所述處理系統日志的裝置,其特征在于,所述的第 一核心單元自所述的第一緩沖器獲得所述的第一日志之前,向所述的仲裁器 請求所述的總線控制,并且所述的第二核心單元自所述的第二緩沖器獲得所 述的第二日志之前,向所述的仲裁器請求所述的總線控制。
12.根據權利要求10所述處理系統日志的裝置,其特征在于,當所述的 第一緩沖器無空閑空間時,所述的第一緩沖器的日志被清空,以及當所述的 第二緩沖器無空閑空間時,處理器依據所執行的軟件程序不能寫入任何新日 志至所述的第二緩沖器。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于聯發科技股份有限公司,未經聯發科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200810085839.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:半導體裝置制造方法、制造程序及制造系統
- 下一篇:加工工件的方法和機床





