[發(fā)明專利]一種統(tǒng)計設(shè)備拆卸次數(shù)的方法和裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810084728.1
• 申請日: 2008-03-14
• 公開（公告）號: CN101237665A
• 公開（公告）日: 2008-08-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 雷新朗
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳華為通信技術(shù)有限公司
• 主分類號: H04Q7/34
• 分類號: H04Q7/34;H04M1/24
• 代理公司: 北京挺立專利事務(wù)所
• 代理人: 皋吉甫

1、一種統(tǒng)計設(shè)備拆卸次數(shù)的方法，其特征在于，包括以下步驟：

檢測設(shè)備的第一元件拆卸引起的電壓變化；

根據(jù)所述電壓變化的次數(shù)獲得所述設(shè)備拆卸次數(shù)。

2、如權(quán)利要求1所述統(tǒng)計設(shè)備拆卸次數(shù)的方法，其特征在于，所述檢測設(shè)備的第一元件拆卸引起的電壓變化具體為：

對所述第一元件所在電路上的第二元件的電壓進(jìn)行檢測，當(dāng)所述第一元件被拆卸時，檢測到所述第二元件的電壓變化。

3、如權(quán)利要求1或2所述統(tǒng)計設(shè)備拆卸次數(shù)的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述電壓變化的次數(shù)獲得所述設(shè)備拆卸次數(shù)具體為：

檢測到第二元件的電壓的特定變化時，將本地的計數(shù)器加1并通過設(shè)備自身或外部設(shè)備對計數(shù)器記錄的數(shù)據(jù)進(jìn)行顯示。

4、如權(quán)利要求1或2所述統(tǒng)計設(shè)備拆卸次數(shù)的方法，其特征在于，所述第一元件為設(shè)備的固定螺釘。

5、一種統(tǒng)計設(shè)備拆卸次數(shù)的裝置，其特征在于，包括：

第一元件，用于固定設(shè)備并通過對該元件的拆卸引起電壓變化；

檢測模塊，用于檢測所述設(shè)備的第一元件拆卸引起的電壓變化；

計數(shù)模塊，用于記錄所述檢測模塊檢測到的電壓變化的次數(shù)，并根據(jù)所述電壓變化的次數(shù)獲得所述設(shè)備拆卸次數(shù)。

6、如權(quán)利要求5所述統(tǒng)計設(shè)備拆卸次數(shù)的裝置，其特征在于，所述檢測模塊進(jìn)一步包括：

電壓提供子模塊，用于對所述第一元件所在的電路提供電壓；

第二元件，與所述第一元件位于同一電路；

檢測子模塊，用于檢測設(shè)備的第一元件拆卸引起的所述第二元件的電壓變化。

7、如權(quán)利要求5所述統(tǒng)計設(shè)備拆卸次數(shù)的裝置，其特征在于，還包括：

讀取模塊，用于讀取所述計數(shù)模塊記錄的電壓變化次數(shù)并顯示。

8、如權(quán)利要求5或6所述統(tǒng)計設(shè)備拆卸次數(shù)的裝置，其特征在于，所述第一元件為設(shè)備的固定螺釘。

9、如權(quán)利要求7所述統(tǒng)計設(shè)備拆卸次數(shù)的裝置，其特征在于，所述讀取模塊為本地的計數(shù)器。

10、一種電子設(shè)備，其特征在于，包含用于統(tǒng)計所述電子設(shè)備拆卸次數(shù)的裝置，所述用于統(tǒng)計所述電子設(shè)備拆卸次數(shù)的裝置包括：

第一元件，用于固定設(shè)備并通過對該元件的拆卸引起電壓變化；

檢測模塊，用于檢測所述設(shè)備的第一元件拆卸引起的電壓變化；

計數(shù)模塊，用于記錄所述檢測模塊檢測到的電壓變化的次數(shù)，并根據(jù)所述電壓變化的次數(shù)獲得所述設(shè)備拆卸次數(shù)。