[發明專利]實時時鐘校準系統及其方法

有效

• 申請號: 200810084325.7
• 申請日: 2008-03-18
• 公開（公告）號: CN101452307A
• 公開（公告）日: 2009-06-10
• 發明（設計）人: 楊宗憲;柯智偉
• 申請（專利權）人: 聯發科技股份有限公司
• 主分類號: G06F1/14
• 分類號: G06F1/14
• 代理公司: 北京萬慧達知識產權代理有限公司
• 代理人: 葛 強;張一軍

技術領域

本發明是關于校準實時時鐘(Real?Time?Clock，以下簡稱為RTC)，尤其是關于一種利用平均校準方法來校準RTC的方法。

背景技術

實時時鐘(Real?Time?Clock，以下簡稱為RTC)是很多電子裝置的必要元件，它是利用晶體來執行定時的功能。晶體在預設的頻率振蕩，并在完成預設振蕩數目后以一秒來更新計數器。振蕩的頻率隨溫度改變而不同，而當環境條件改變時，晶體的精確度也會受到影響。此外，晶體的質量也會影響精確度，即，某些狀況下，晶體的振蕩將較預期值稍快或稍慢，因此完成預設振蕩數目的時間將無法精確地等于一秒，從而導致時鐘定時不夠精確。上述情況中即需要執行校準操作以校正定時誤差。

若累積誤差相對較大，校準點將出現顯著突升，這種情況會給使用者造成困擾。

發明內容

本發明克服了現有技術定時不夠精確的不足，提供了一種校準實時時鐘(Real?Time?Clock，以下簡稱為RTC)的系統及其方法，以達到比現有技術出色的精確度。

為解決上述的技術問題，依據本發明技術方案的一實施例提供一種RTC校準系統。系統包含有：定時計數器(timer?counter)；時鐘發生器；校準參數刷新單元(calibration?parameter?refresh?unit)；以及時鐘校準單元。時鐘校準單元耦合于定時計數器、時鐘發生器與校準參數刷新單元之間。校準參數刷新單元在達到第一校準周期(calibration?period)的最后一秒前，以第一校準參數作為輸出校準參數，而在達到第一校準周期的最后一秒時，以第二校準參數作為輸出校準參數，以替代第一校準參數。時鐘校準單元依據時鐘發生器所產生的多個時鐘周期(clock?cycle)及校準參數刷新單元所提供的輸出校準參數，使定時計數器進行遞增(increment)。

本發明還提供另一種RTC校準系統的實施例。RTC校準系統包含有：定時計數器；時鐘發生器；以及時鐘校準單元。時鐘校準單元耦合于時鐘發生器與定時計數器之間，用于接收包含平均校準值、余數(remainder)校準值及校準周期的校準參數；計數時鐘發生器所產生的多個時鐘周期；在校準周期期間依據平均校準值和余數校準值來校準計數得到的時鐘周期的數目；以及當達到時鐘周期的預設數目時使得定時計數器遞增一秒(incremented?by?one?second)。

本發明也揭露一種RTC校準方法的實施例。此方法包含有：在達到第一校準周期的最后一秒前，提供第一校準參數作為輸出校準參數；當達到第一校準周期最后一秒時，提供第二校準參數作為輸出校準參數，以替代第一校準參數；以及依據時鐘發生器所產生的多個時鐘周期及所提供的輸出校準參數，使定時計數器進行遞增。實用中定時計數器約為遞增一秒。

本發明還揭露另一種RTC校準方法的實施例。此方法包含有：接收包含平均校準值、余數校準值及校準周期的校準參數；計數時鐘發生器所產生的多個時鐘周期；在校準周期期間依據平均校準值和余數校準值來校準計數所得到的時鐘周期；以及當達到時鐘周期的預設數目時使得定時計數器遞增一秒。

本發明的RTC校準系統及方法與現有技術相比，其有益效果表現于：利用平均校準效應在一定時間期間內做持續校準，避免了校準點的顯著跳變，提高了時鐘定時的精確度，從而可達到更好的校準效果。

附圖說明

圖1顯示對應于晶體振蕩的時鐘周期。

圖2是依據本發明實施例的實時時鐘校準系統的示意圖。

圖3是圖2中所示的校準參數刷新單元實施例的示意圖。

圖4顯示本發明的實時時鐘校準方法的實施例的步驟流程圖。

具體實施方式

本發明旨在利用一種平均校準效應，而不是執行類似于現有技術的突發(burst)式校準。通過在一定時間期間內做持續校正，而不是集中在一個階段執行全部校準，從而可獲得更出色的校準效果。

閱讀了下文對附圖所示的優選實施例的詳細描述之后，本發明的上述及其它目的對所屬領域的技術人員而言將顯而易見。