[發(fā)明專利]用于測試連接墊的電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810084231.X
• 申請日: 2008-03-27
• 公開（公告）號: CN101545942A
• 公開（公告）日: 2009-09-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳英哲
• 申請（專利權(quán)）人: 矽創(chuàng)電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/04
• 分類號: G01R31/04;G01R1/02;G01R1/073
• 代理公司: 北京恒久聯(lián)達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 李連生

1.一種用于測試連接墊的電路，其用于測試一個(gè)第一個(gè)連 接墊與一個(gè)第二連接墊，其特征在于，該電路包含：

一個(gè)測試電路；

一個(gè)第一個(gè)測試開關(guān)，其耦接于該第一個(gè)連接墊與該測試 電路之間；

一個(gè)連接墊開關(guān)，其耦接于該第一個(gè)連接墊與該第二連接 墊之間；以及

一個(gè)第二測試開關(guān)，其耦接于該第二連接墊與該測試電路 之間。

2.如權(quán)利要求1所述的用于測試連接墊的電路，其特征在 于，該第一個(gè)連接墊更耦接一個(gè)測試裝置的多個(gè)測試探針的其 中一個(gè)測試探針，該測試探針傳送一個(gè)測試訊號至該第一個(gè)連 接墊，該測試訊號從該第一個(gè)連接墊經(jīng)該第一個(gè)測試開關(guān)傳送 至該測試電路或透過該連接墊開關(guān)、該第二連接墊與該第二測 試開關(guān)傳送至該測試電路。

3.如權(quán)利要求1所述的用于測試連接墊的電路，其特征在 于，該第一個(gè)測試開關(guān)導(dǎo)通時(shí)，該連接墊開關(guān)與該第二測試開 關(guān)截止，該連接墊開關(guān)導(dǎo)通時(shí)，該第一個(gè)測試開關(guān)截止，且該 第二測試開關(guān)導(dǎo)通。

4.如權(quán)利要求1所述的用于測試連接墊的電路，其特征在 于，該第一個(gè)連接墊、該第一個(gè)測試開關(guān)、該第二測試開關(guān)、 該第二連接墊、該連接墊開關(guān)、該測試電路設(shè)置于一個(gè)集成電 路。

5.一種用于測試連接墊的電路，其用于測試一個(gè)第一個(gè)連 接墊與一個(gè)第二連接墊，其特征在于，該電路包含：

一個(gè)第一個(gè)測試電路；

一個(gè)第二測試電路；

一個(gè)第一個(gè)測試開關(guān)，其耦接于該第一個(gè)連接墊與該第一 個(gè)測試電路之間；

一個(gè)連接墊開關(guān)，其耦接于該第一個(gè)連接墊與該第二連接 墊之間；以及

一個(gè)第二測試開關(guān)，其耦接于該第二連接墊與該第二測試 電路之間。

6.如權(quán)利要求1所述的用于測試連接墊的電路，其特征在 于，該測試電路包含：

一個(gè)輸出端；以及

一個(gè)二極管，其耦接于一個(gè)接地端與該輸出端之間。

7.如權(quán)利要求1所述的用于測試連接墊的電路，其特征在 于，該測試電路包含：

一個(gè)第一二極管，其一端耦接于一個(gè)接地端；

一個(gè)第二二極管，其一端耦接于該第一二極管的另一端；

一個(gè)輸出端，其耦接于該第二二極管的另一端。

8.如權(quán)利要求1所述的用于測試連接墊的電路，其特征在 于，該第一個(gè)測試開關(guān)與該第二測試開關(guān)分別為一個(gè)晶體管。

9.如權(quán)利要求1所述的用于測試連接墊的電路，其特征在 于，該連接墊開關(guān)為一個(gè)晶體管。

10.一種用于測試連接墊的電路，其應(yīng)用于測試M個(gè)連接 墊，其特征在于，該電路包含：

一個(gè)測試電路；

M個(gè)測試開關(guān)，其分別耦接該些連接墊與該測試電路之間；

M-1個(gè)連接墊開關(guān)，其分別耦接于該些連接墊之間；

其中，M大于2。

11.如權(quán)利要求10所述的用于測試連接墊的電路，其特征 在于，該些連接墊的其中一個(gè)連接墊更耦接一個(gè)測試裝置的多 個(gè)測試探針的其中一個(gè)測試探針，該測試探針傳送一個(gè)測試訊 號至該測試探針耦接的該連接墊，該測試訊號從該測試探針耦 接的該連接墊經(jīng)該測試探針耦接的該連接墊所耦接的該測試開 關(guān)傳送至該測試電路或從該測試探針耦接的該連接墊透過該測 試探針耦接的該連接墊所耦接的該連接墊開關(guān)、耦接該連接墊 開關(guān)且并未與該測試探針耦接的該連接墊、未耦接該測試探針 的該連接墊所耦接的該測試開關(guān)而傳送至該測試電路。

12.如權(quán)利要求10所述的用于測試連接墊的電路，其特征 在于，該些連接墊、該些測試開關(guān)、該些連接墊開關(guān)與該測試 電路設(shè)置于一個(gè)集成電路。