[發明專利]紫外線的照射系統、固化反應檢測裝置、樹脂固化方法

無效

• 申請號: 200810083563.6
• 申請日: 2008-03-12
• 公開（公告）號: CN101266211A
• 公開（公告）日: 2008-09-17
• 發明（設計）人: 千賀匡;今井清司
• 申請（專利權）人: 歐姆龍株式會社
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 隆天國際知識產權代理有限公司
• 代理人: 馬少東

技術領域

本發明涉及一種用于固化紫外線固化樹脂的紫外線照射系統、使用于該系統中的固化反應檢測裝置以及使用該紫外線照射系統的紫外線固化樹脂的固化方法，尤其涉及一種實時地判斷紫外線固化樹脂的固化反應狀態的技術。?

背景技術

近年來，在眾多的產業領域中，作為粘結劑以及涂層劑的固化方法而采用紫外線固化法(Ultra?Violet?Curing)。與利用熱能的熱固化方法相比，紫外線固化法具有不會向大氣中放散有害物質、固化時間短、也能夠應用于對熱敏感的產品等諸多優點。?

在紫外線固化法中采用紫外線固化樹脂，該紫外線固化樹脂在照射紫外線之前主要是液體，但在照射紫外線之后變為固體。這種紫外線固化樹脂作為主劑而至少包含單體或低聚體，還包含光致聚合引發劑。光致聚合引發劑接收所照射的紫外線而產生自由基或陽離子，而且所發生的自由基或陽離子與單體或低聚體發生聚合反應。伴隨著該聚合反應，單體或低聚體變為聚合體，從而其分子量變得極大，而且其熔點降低。其結果，紫外線固化樹脂不能維持液體狀態而變為固體。?

另一方面，由于很難用肉眼來判斷紫外線固化樹脂的固化度以及質量是否異常，因此期望著一種容易地判斷紫外線固化樹脂的固化反應狀態的方法。因此，例如在JP特許第2651036號公報(專利文獻1)中，公開了一種監控可固化涂層材料的固化程度的方法。該方法具有如下步驟：針對由包含發光的熒光成分的探頭構成的材料類，為了測定紫外線可固化材料的固化度而測定探頭的發光，其中，該熒光成分的發光是隨著紫外線可固化材料以及可固化材料的固化度的函數變化。?

專利文獻1：JP特許第2651036號公報?

然而，如上述的JP特許第2651036號公報(專利文獻1)中所公開那樣，將以隨著可固化材料的固化度的函數變化的方式發光的探頭添加在紫外線固?化樹脂中的方法，通常很難應用于通用的紫外線固化法中。即，如上述探頭那樣添加特別的材料是在成本上不利的，另外，從質量的角度來看，通常也不允許添加那種探頭。?

發明內容

因此，本發明是為了解決這種問題而提出的，其目的在于，提供一種針對通用的紫外線固化樹脂能夠實時判斷其固化反應狀態的紫外線照射系統、使用于該系統中的固化反應檢測裝置以及使用該裝置的紫外線固化樹脂的固化方法。?

本申請的發明者們發現了如下事實，并作為JP特愿2006-071580號申請了利用該事實的紫外線固化樹脂的狀態推定方法：隨著向紫外線固化樹脂的紫外線照射，包含在紫外線固化樹脂中的光致聚合引發劑自身放射與紫外線固化樹脂的狀態(例如，固化度)具有相關性且可觀測熒光。本申請的發明利用與該紫外線固化樹脂的狀態具有相關性且可觀測熒光，解決上述問題。?

若根據本發明的某一方面，則本發明是一種紫外線照射系統，用于固化紫外線固化樹脂，該紫外線固化樹脂包含主劑和光致聚合引發劑，該主劑由單體以及低聚體中的至少一種組成，其特征在于，具有光源裝置和固化反應檢測裝置，其中，上述光源裝置用于照射第一紫外線，該第一紫外線用于促進上述紫外線固化樹脂的固化反應，上述固化反應檢測裝置具有照射裝置、測定裝置以及判斷裝置，其中，上述照射裝置用于照射第二紫外線，該第二紫外線用于使上述紫外線固化樹脂活性化，上述測定裝置接收上述照射裝置所照射的上述第二紫外線，由此測定上述光致聚合引發劑所放射的熒光量，上述判斷裝置基于上述測定裝置所測定熒光量的隨時間變化情況，判斷上述紫外線固化樹脂的固化反應狀態。?

若采用根據該方面的紫外線照射系統，則照射第一紫外線，從而促進紫外線固化樹脂的固化反應，并照射第二紫外線，從而測定紫外線固化樹脂的光致聚合引發劑所放射的熒光量。該熒光量與紫外線固化樹脂的固化反應狀態具有相關性，因此基于該熒光量隨時間變化的情況，能夠實時判斷固化反應狀態。?

優選地，若光源裝置開始照射第一紫外線，則固化反應檢測裝置開始照?射第二紫外線照射并開始測定熒光量，而且，若光源裝置結束照射第一紫外線，則固化反應檢測裝置結束照射第二紫外線并結束測定熒光量。?

優選地，若所測定熒光量超過規定閾值，則判斷裝置指示光源裝置結束照射第一紫外線。?

優選地，若所測定熒光量在單位時間的變化量小于規定閾值，則判斷裝置指示光源裝置結束照射第一紫外線。?

優選地，光源裝置具有隨時間大致一定強度的第一紫外線，照射裝置照射強度周期性地變化的第二紫外線，測定裝置基于與照射裝置所放射的第二紫外線的強度變化周期對應的周期成分，在所測定熒光量中提取光致聚合引發劑所放射的熒光量。?