[發明專利]數據處理方法和器件、固態成像器件及成像裝置有效
| 申請號: | 200810082776.7 | 申請日: | 2008-03-12 |
| 公開(公告)號: | CN101267507A | 公開(公告)日: | 2008-09-17 |
| 發明(設計)人: | 鈴木敦史;渡邊崇規 | 申請(專利權)人: | 索尼株式會社 |
| 主分類號: | H04N5/335 | 分類號: | H04N5/335;H04N3/15;H03M1/48;H03M1/56 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 董方源 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 數據處理 方法 器件 固態 成像 裝置 | ||
1.一種數據處理方法,用于通過針對多個模擬處理對象信號中的每一個將參考信號與該處理對象信號相比較,與所述比較并行地在指定的計數周期中執行計數處理,并且在針對每個處理對象信號的所述比較完成時存儲計數值,從而獲取所述多個處理對象信號的一乘法累加結果的數字數據,所述參考信號逐漸改變且是用于將處理對象信號轉換成數字數據的,所述數據處理方法包括以下步驟:
在針對減法元件的處理對象信號的計數處理期間,在從所述處理對象信號和所述參考信號彼此一致時的點到所述參考信號達到預定終止值時的點之間的周期中執行計數處理;
在針對加法元件的處理對象信號的計數處理期間,在從所述參考信號為預定的初始值時的點到所述處理對象信號和所述參考信號彼此一致時的點之間的周期中執行計數處理;
以作為向上計數模式和向下計數模式中的任意一種的相同模式向所述減法元件和所述加法元件應用計數處理;
在針對隨后的處理對象信號的計數處理期間,利用在針對前一處理對象信號的計數處理中存儲的計數值作為初始值來開始計數處理;并且
校正所述乘法累加結果的數字數據,校正的量是對應于針對所述減法元件的處理對象信號的計數處理中的參考信號從所述初始值達到所述終止值的周期的計數值。
2.如權利要求1所述的數據處理方法,其中
所述處理對象信號是從像素獲得的模擬像素信號,并且是指示所述像素被重置時的參考分量的重置電平或通過將真實的信號分量與所述參考分量相加而獲得的信號電平,并且
在所述重置電平被設置為所述減法元件并且所述信號電平被設置為所述加法元件的情況下以所述向上計數模式執行計數處理。
3.如權利要求1所述的數據處理方法,其中
所述處理對象信號是從像素獲得的模擬像素信號,并且是指示所述像素被重置時的參考分量的重置電平或通過將真實的信號分量與所述參考分量相加而獲得的信號電平,并且
在所述重置電平被設置為所述加法元件并且所述信號電平被設置為所述減法元件的情況下以所述向下計數模式執行計數處理。
4.一種數據處理器件,包括:
參考信號生成單元,該參考信號生成單元針對多個模擬處理對象信號中的每一個,生成逐漸改變的用于將該處理對象信號轉換成數字數據的參考信號;
比較單元,該比較單元將由所述參考信號生成單元生成的所述參考信號與各個處理對象信號相比較;
計數周期控制單元,該計數周期控制單元基于所述比較單元的比較結果來確定計數周期,以在針對減法元件的處理對象信號的計數處理期間,在從所述處理對象信號和所述參考信號彼此一致時的點到所述參考信號達到預定終止值時的點之間的周期中執行計數處理,并且在針對加法元件的處理對象信號的計數處理期間,在從所述參考信號為預定的初始值時的點到所述處理對象信號和所述參考信號彼此一致時的點之間的周期中執行計數處理;
計數單元,該計數單元在由所述計數周期控制單元指定的計數周期中執行計數處理,在針對每個處理對象信號的比較處理完成時存儲計數值,以作為向上計數模式和向下計數模式中的任意一種的相同模式向所述減法元件和所述加法元件應用計數處理,并且在針對隨后的處理對象信號的計數處理期間,利用在針對前一處理對象信號的計數處理中存儲的計數值作為初始值來開始計數處理;以及
校正單元,該校正單元校正所述多個處理對象信號的一乘法累加結果的數字數據,校正的量是對應于針對所述減法元件的處理對象信號的計數處理中的參考信號從所述初始值達到所述終止值的周期的計數值。
5.如權利要求4所述的數據處理器件,其中所述校正單元在針對所述多個模擬處理對象信號中第一個處理對象信號的計數處理期間,通過致使所述計數單元利用對應于與所述參考信號從所述初始值達到所述終止值的周期相對應的計數值的值作為初始值開始計數處理,來執行所述校正。
6.如權利要求4所述的數據處理器件,其中所述校正單元在針對最后處理對象信號的計數處理完成之后,利用對應于與所述參考信號從所述初始值達到所述終止值的周期相對應的計數值的值向所存儲的計數值應用校正。
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