[發明專利]通過近場測試系統測試近場通信設備的方法

無效

• 申請號: 200810082724.X
• 申請日: 2008-02-27
• 公開（公告）號: CN101520492A
• 公開（公告）日: 2009-09-02
• 發明（設計）人: 郭寰;彭宏利
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: G01R33/02
• 分類號: G01R33/02;G01R29/00;G01R29/08
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 尚志峰;吳孟秋

1.一種通過近場測試系統測試近場通信設備的方法，所述近場測試系統包括被測設備、測試儀器、測試裝置和校準線圈，其中，所述測試裝置包括磁場生成天線和平衡補償電路，其特征在于，所述測試方法包括以下步驟：

步驟S102，通過調整所述平衡補償電路上的電位計使測試裝置輸出端兩側的電路處于平衡狀態；

步驟S104，放置所述被測設備和校準線圈，通過所述磁場生成天線向所述被測設備發送特定的請求信號以接收所述被測設備生成的應答指令，在數據傳輸過程中測量并記錄第一磁場強度值H1和第一調制波形參數集

步驟S106，將所述磁場生成天線沿水平中心軸轉動180°，重復執行所述步驟S104，在數據傳輸過程中測量并記錄第二磁場強度值H2和第二調制波形參數集以及

步驟S108，根據記錄的所述第一磁場強度值H1和所述第一調制波形參數集以及所述第二磁場強度值H2和所述第二調制波形參數集計算平均磁場強度值H和平均調制波形參數集。

2.根據權利要求1所述的測試方法，其特征在于，在所述步驟S102之前還包括以下步驟：將所述校準線圈和探針連接至所述測試儀器。

3.根據權利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述探針為高阻抗探針，并且所述測試儀器可在頻域對信號進行測試、且支持近場通信的系列標準，所述測試裝置還包括第一檢測線圈和第二檢測線圈。

4.根據權利要求3所述的測試方法，其特征在于，所述步驟S102包括：

使所述磁場生成天線產生一個頻率為13.56MHz的射頻信號；

通過所述探針測量所述測試裝置的輸出端電壓；以及

根據所述輸出端電壓，通過調整所述平衡補償電路中的電位計，使測得的電壓比短路所述第一檢測線圈或所述第二檢測線圈后測得的電壓至少低40dB。

5.根據權利要求3所述的測試方法，其特征在于，在所述步驟S104還包括：

所述被測設備的近場通信天線、所述第一檢測線圈、所述磁場生成天線、所述第二檢測線圈、和所述校準線圈彼此平行，且中心共線；以及

以指定速率發送所述特定的請求信號，

其中，發送所述特定的請求信號的頻率為13.56MHz，所述請求信號的強度在使所述被測設備正常工作的范圍內。

6.根據權利要求3所述的測試方法，其特征在于，通過所述校準線圈在相對于所述磁場生成天線與所述被測設備的近場通信天線對稱的位置處測量，以獲得所述第一磁場強度值H1和所述第二磁場強度值H2。

7.根據權利要求3所述的測試方法，其特征在于，通過所述探針在所述測試裝置的輸出端處測量所述第一調制波形參數集和所述第二調制波形參數集。

8.根據權利要求6所述的測試方法，其特征在于，在所述步驟S106中，根據公式H＝(H1+H2)/2來計算所述平均磁場強度值H。

9.根據權利要求7所述的測試方法，其特征在于，在所述步驟S106中，根據公式X‾=(X1‾+X2‾)/2]]>來計算所述平均調制波形參數集。

10.根據權利要求8或9所述的測試方法，其特征在于，在所述步驟S106之后，比較所述平均磁場強度與預期的磁場強度，以及比較所述平均負載調制波形與預期的負載調制波形，并根據比較結果判斷所述被測設備是否通過測試。