[發明專利]測量小室結構、特別是壓力測量小室結構

有效

• 申請號: 200810081084.0
• 申請日: 2008-02-26
• 公開（公告）號: CN101275877A
• 公開（公告）日: 2008-10-01
• 發明（設計）人: 馬丁·梅勒爾特
• 申請（專利權）人: VEGA格里沙貝兩合公司
• 主分類號: G01L19/00
• 分類號: G01L19/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 趙冰

技術領域

本發明涉及一種測量小室結構，特別是壓力測量小室結構。

背景技術

通常用于在例如導管或豎井中測量壓力的測量裝置由一個帶有集成電子器件的外殼以及位于前端的帶有一個測量小室的測量小室結構組成。所述測量小室的測量值被送至電子器件并由其進行處理，從而通過外部接口給出處理后的數據。

由于制造條件的容差和制造測量小室結構時的誤差，通常在制造之后的第一步驟中確定測量小室結構的參數和/或測量值。只要所述參數和測量值處于允許的容差范圍內，該測量小室結構被提供以隨后放入到測量裝置的外殼中，特別是被入庫。其中在入庫時部分地按照小室結構的品質的不同來進行區分，使得低品質的測量小室結構與高品質的測量小室結構被分開存放。

在隨后的第二時間點，如此提供的測量小室結構被放入到測量裝置的外殼中并與測量裝置的電子器件或控制裝置相連接。此外還要進行對測量小室的測量值和/或參數的第二次重新測量，以形成一個與測量小室有關的存儲值作為校正值，用于根據能夠提供如此確定的該特定測量小室結構的特定參數校正測量值或由它獲得的數據，并在隨后的測量過程中在控制裝置中提供已處理并從而校正后的數據。然后，這樣的與測量小室有關的存儲值被存儲在測量裝置外殼中的一個與測量裝置的電器件相對應的存儲器中。

這種方法的缺點在于，最終每個測量小室或測量小室結構針對至少一個測量值或參數被檢測兩次，第一次用于測量小室結構的預選或分類揀選，而第二次用于為該測量小室結構確定校正值。

發明內容

本發明的目的在于建議一種測量小室結構，尤其是壓力測量小室結構，它可以用很低的開銷被放入到測量裝置中。

上述任務由具有權利要求1所述特征的測量小室結構、特別是壓力測量小室結構來實現。

從屬權利要求給出了具有優點的實施例。

相應地，測量小室結構、尤其是電容性的壓力測量小室結構具有測量小室和存儲裝置，在所述存儲裝置中存有至少一個所存入的與測量小室有關的存儲值。其中測量小室連同存儲裝置一起被構造成可獨立操縱的單元。

其中所述存儲裝置最好被固定在該測量小室上。所述存儲器裝置具有優點地通過一個印刷電路板被固定在測量小室上。所述存儲裝置最好節省空間地被設置在印刷電路板與測量小室之間通常所具有的自由空間內。

在測量小室結構中最好設置有一個集成電路，它被配置為和/或可編程為將至少一個與測量小室有關的存儲值存入到所述存儲裝置中和/或從所述存儲裝置讀出至少一個與測量小室有關的存儲值。特別是，由此可以對將要存入或已存入的數據進行處理，并能有目的地對所述存儲裝置進行存取。存儲裝置可以通過簡單的方式和方法直接設置在集成電路中。

所述集成電路可以具有處理器或者也用于更高級處理的控制裝置，所述處理器或控制裝置尤其是用于提供從測量小室的測量數據獲得的數據。這樣，可以由測量小室結構借助于控制裝置給出所提供的頻率值，而不是例如電容性測量值或測量數據。

測量小室結構最好直接配備用來提供與測量小室范圍內的溫度有關的溫度值的溫度測量裝置，以直接產生至少一個與測量小室有關的存儲值或者提供參考值，外部控制電路利用該值可以確定并提供與測量小室有關的存儲值。

測量小室結構以通常的方式和方法配備有用于在所述存儲裝置與外部裝置之間傳輸數據的接口，其中除了純測量數據之外還可通過它傳輸與測量小室有關的存儲值。這里所述外部裝置最好被配置為處理器或控制裝置，用來借助于至少一個與測量小室有關的存儲值和/或借助于由測量小室得到的測量數據或由測量數據獲得的數據形成經過處理的測量數據。

測量小室具有優點地可以具有小于40mm的外徑，最好外徑小于25mm。

根據本發明，最好還獨立地給出一種用于提供這種測量小室結構的方法，其中在制造所述測量小室結構之后確定測量小室結構的參數和/或測量值，并且接著該測量小室結構被提供以隨后裝入到測量裝置的外殼中，特別是被入庫，其中在確定所述測量值和/或參數之后至少一個與測量小室有關的存儲值根據所述測量值和/或參數被提供，并被存入到所述測量小室結構的存儲裝置中。

根據本發明，測量裝置、特別是壓力測量裝置最好獨立地具有可放入或已放入的這種測量小室結構，用于傳輸測量數據和至少一個來自這種已放入的測量小室結構的存儲裝置的與測量小室有關的存儲值的接口，以及用于借助至少一個與測量小室有關的存儲值并借助來自該測量小室結構中的該測量小室的測量數據或由測量數據獲得的數據來提供經過處理的測量數據的處理器或控制電路。