[發明專利]可檢測接點厚度的基板及其檢測方法有效
| 申請號: | 200810074322.5 | 申請日: | 2008-02-15 |
| 公開(公告)號: | CN101226921A | 公開(公告)日: | 2008-07-23 |
| 發明(設計)人: | 廖國成 | 申請(專利權)人: | 日月光半導體制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/498 | 分類號: | H01L23/498;H01L23/544;H01L21/66;G01B15/02 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 彭久云 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 檢測 接點 厚度 及其 方法 | ||
1.一種可檢測接點厚度的基板,其包含:
第一介電層,其具有上表面與下表面;
第一金屬層,其形成于該第一介電層的該上表面,該第一金屬層包含有線路區及測試區,該線路區具有多個接點;以及
第二金屬層,其形成于該第一介電層的該下表面,該第二金屬層具有第一鏤空區,該第一鏤空區對準該測試區。
2.如權利要求1所述的可檢測接點厚度的基板,其中該測試區位于該線路區外側。
3.如權利要求1所述的可檢測接點厚度的基板,其中該測試區位于該第一金屬層的角隅。
4.如權利要求1所述的可檢測接點厚度的基板,其另包含有第三金屬層,該第三金屬層具有第二鏤空區,該第二鏤空區對準該測試區。
5.如權利要求1所述的可檢測接點厚度的基板,其另包含有第二介電層,該第二介電層位于該第二金屬層與該第三金屬層之間。
6.如權利要求1所述的可檢測接點厚度的基板,其中該測試區為用以定位的三角標。
7.一種可檢測接點厚度的檢測方法,包含步驟:
提供X射線測厚儀;
提供基板,該基板包含:
第一介電層,其具有上表面與下表面;
第一金屬層,其形成于該第一介電層的該上表面,該第一金屬層包含有線路區及測試區,該線路區具有多個接點;以及
第二金屬層,其形成于該第一介電層的該下表面,該第二金屬層具有第一鏤空區,該第一鏤空區對準該測試區;以及
以該X射線測厚儀的X射線量測該基板,以得知該測試區的厚度。
8.如權利要求7所述的可檢測接點厚度的檢測方法,其中該測試區位于該線路區外側。
9.如權利要求7所述的可檢測接點厚度的檢測方法,其中該測試區位于該第一金屬層的角隅。
10.如權利要求7所述的可檢測接點厚度的檢測方法,其中該基板另包含有第三金屬層,該第三金屬層具有第二鏤空區,該第二鏤空區對準該測試區。
11.如權利要求7所述的可檢測接點厚度的檢測方法,其中該基板另包含有第二介電層,該第二介電層位于該第二金屬層與該第三金屬層之間。
12.如權利要求7所述的可檢測接點厚度的檢測方法,其中該測試區為用以定位的三角標。
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