[發明專利]利用紫外光譜法測定細胞周期的方法無效
| 申請號: | 200810069990.9 | 申請日: | 2008-07-18 |
| 公開(公告)號: | CN101329270A | 公開(公告)日: | 2008-12-24 |
| 發明(設計)人: | 林曉鋼;潘英俊;郭永彩;高潮 | 申請(專利權)人: | 重慶大學 |
| 主分類號: | G01N21/33 | 分類號: | G01N21/33;C12Q1/02 |
| 代理公司: | 重慶博凱知識產權代理有限公司 | 代理人: | 張先蕓 |
| 地址: | 400044重*** | 國省代碼: | 重慶;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 利用 紫外 光譜 測定 細胞周期 方法 | ||
1.利用紫外光譜法測定細胞周期的方法,其特征在于包括如下步驟:
1)將真核細胞的單個細胞作為一個變化體系,用處于正常生長狀態下的細胞周期G1期、S期、G2期和M期的單個細胞制成標準樣品,利用紫外分光光度計測量所述標準樣品在190nm~400nm的吸光度;所述標準樣品的獲得,要保證細胞樣品處于正常生長狀態下,采用光學顯微鏡觀察,根據形態變化,獲取處于細胞周期不同時相的細胞,將其制成標準樣品;
對于吸光度在190nm~400nm范圍內只有一個吸收峰的情況,則直接利用該吸收峰強度與細胞周期的關系建立模型,通過吸收峰強度對細胞周期進行判別;對于吸光度在該范圍內有多個吸收峰的情況,則通過相關系數來判斷哪個吸收峰更有利于對細胞周期進行判別,選擇相關系數最大的吸收峰,建立其強度與細胞周期的關系模型;
2)利用紫外可見光分光光度計在190~400nm范圍內,對被測樣品進行掃描,對所得光譜曲線進行預處理后,將被測樣品光譜曲線的吸收峰強度與標準樣品細胞周期的紫外光譜模型的吸收峰強度對比,即可判斷出被測樣品處于細胞周期的哪一階段。
2.根據權利要求1所述利用紫外光譜法測定細胞周期的方法,其特征在于所述步驟1)中吸光度的測量是在生理溫度36.5±0.5℃下利用紫外分光光度計,進行標準樣品的紫外光譜測量,設定紫外分光光度計的掃描范圍190~400nm,掃描步長0.1nm,掃描次數5次。
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