[發明專利]一種X射線準直器裝置有效
| 申請號: | 200810069876.6 | 申請日: | 2008-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN101303908A | 公開(公告)日: | 2008-11-12 |
| 發明(設計)人: | 鄭林;李迪凡;何長光;彭正坤 | 申請(專利權)人: | 西南技術工程研究所 |
| 主分類號: | G21K1/02 | 分類號: | G21K1/02;G01N23/00 |
| 代理公司: | 重慶弘旭專利代理有限責任公司 | 代理人: | 周韶紅 |
| 地址: | 400039*** | 國省代碼: | 重慶;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 射線 準直器 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種用于X射線測試分析儀器設備的準直器裝置。
背景技術
在現有的X射線測試分析儀器設備中,所使用的兩個準直器裝置分別固定在X光源和探測器處,X光源先通過一個準直器裝置的狹縫到達被測樣品,然后由被測樣品所產生的散射線再通過的另一個準直器裝置的狹縫進入探測器進行相應的測試分析。該準直器裝置通常由底座,插片架和1個以上的狹縫插片組成,底座經螺釘固定在儀器設備上,插片架與底座固定連接,狹縫插片插在插片架上,狹縫插片的兩個插接側面在插片架的插槽中由彈簧定位;每個狹縫插片的中部有一個一定寬度和高度矩形狹縫,在插片架上的幾個狹縫插片的狹縫中心理論上是設計在一條直線上;用于波長較長的X射線輻射時,狹縫插片在狹縫處遮擋材料較薄,常使用0.1mm~0.2mm厚的鉬片或鎢片。
CN1588019A公開了一種“短波長X射線衍射測量裝置和方法”,其中采用的狹縫插片在狹縫處的遮擋材料厚度大于或等于4mm,且幾個狹縫處的遮擋材料總厚度不小于15mm,遮擋材料為鉛或比鉛吸收X射線更強的重金屬;此外還采用了在整體圓柱形遮擋材料上開設直通的圓孔狹縫。
這種插片式的準直器裝置結構的不足之處在于:狹縫插片在多次插、拔的使用中磨損和定位彈簧老化產生的強度變化后,狹縫插片定位不準,狹縫中心之間很難位于一條直線上,特別是較厚的遮擋材料的狹縫插片,其裝配調整和更換困難,還容易導致產生半影區,對準直器的直通性影響較大,這直接影響X射線測試分析儀器設備的測試精度和測試效率,因此,對高精度測試,插片式結構不能滿足測試要求;而在整體圓柱形遮擋材料上開設直通的圓孔狹縫對于直徑較小的狹縫,如直徑為0.1mm的狹縫,現有的加工工藝不能保證其圓弧面的光滑和狹縫的中心線為直線,同樣要影響X射線測試分析儀器設備的測試精度和測試效率。
此外,現有的準直器裝置的一個狹縫端面直接靠近X光源或探測器,導致X射線散射或散射的X射線進入探測器,影響測試分析的結果。
發明內容
本發明的目的在于提供一種狹縫定位準確,不產生半影區,狹縫精度高的用于X射線測試分析儀器設備的準直器裝置。
本發明的目的是這樣實現的:一種X射線準直器裝置,包括底座,其特征在于:在所述底座上設置固定連接的狹縫主體,在所述狹縫主體內設置直通的狹縫。
上述狹縫可為矩形狹縫;所述狹縫主體由整體L型的上扣件和下扣件的內扣合面、外扣合面沿光路方向交錯扣合,并經定位銷和定位螺釘固定組成,其外形為正六面體,可為長方體或正方體;所述狹縫為所述上扣件和所述下扣件的內側面和所述內扣合面之間圍成的間隙。
上述上扣件和所述下扣件的所述內扣合面、所述外扣合面可為沿光路方向相互配合的凹凸形臺階面。
上述狹縫也可為圓孔狹縫,該圓孔狹縫為圓柱形或圓錐臺形;所述狹縫主體由整體的矩形的上扣件和下扣件沿光路方向扣合,并經定位銷和定位螺釘固定組成,其外形為正六面體,可為長方體或正方體;所述狹縫由分別在所述上扣件和所述下扣件的扣合面上對應設置的半圓弧面扣合而成。
上述上扣件和所述下扣件的扣合面也可為沿光路方向相互配合的凹凸形臺階面;通常為方便加工和保證凹凸形臺階面的配合,當圓孔狹縫的直徑較小時,凹凸形臺階面的高度可大于圓孔狹縫的半徑,反之亦然。
上述狹縫不管其形狀相同與否,即矩形狹縫的高度、寬度相同與不同及圓孔狹縫的直徑相同與不同,其中心線位于所述狹縫主體的同一位置為佳。
可在上述狹縫主體的一端部設置凸臺,所述凸臺由所述上扣件和所述下扣件的端部沿伸部分組成,且所述狹縫的一端口部位于所述凸臺的端面上。
上述底座可包括底板,與所述底板上表面固定連接的兩塊側板,兩塊所述側板之間相對的兩個內側面與所述底板的上表面相垂直;在兩塊所述側板上設置螺紋孔;在所述底板上位于兩塊所述側板的外側面處設置長條形的固定孔;所述狹縫主體的下表面與所述底板的上表面相接觸,其一個側面與一個所述側板的內側面相接觸,而其另一個側面經另一個所述側板上的螺紋孔及緊固螺釘固定。
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