[發明專利]嵌入式計算機電測綜合儀器

無效

• 申請號: 200810067816.0
• 申請日: 2008-06-11
• 公開（公告）號: CN101603979A
• 公開（公告）日: 2009-12-16
• 發明（設計）人: 宋躍;張志堅;余熾業;胡升平;杜應彪
• 申請（專利權）人: 東莞理工學院
• 主分類號: G01R15/12
• 分類號: G01R15/12
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種嵌入式計算機電測綜合儀器，其特征是：包括控制單元、輸入電路單元和輸出電路單元，所述控制單元包含主控制處理器、存儲器、人機交互界面，主控制處理器分別連接并控制存儲器和人機交互界面；輸入電路單元包含示波器模塊、頻譜分析儀模塊、邏輯分析儀模塊、萬用表模塊、電阻電容電感測量儀模塊、頻率計模塊和/或數字集成電路測試儀模塊等各功能儀器的輸入電路功能模塊；輸出電路單元則包含信號發生器功能模塊；控制單元通過總線進行與輸入電路單元、輸出電路單元各模塊通信并控制各模塊工作。

2、如權利要求1所述的嵌入式計算機電測綜合儀器，其特征是：所述主控制處理器包括一個可編程邏輯器件，所述可編程邏輯器件內包括一控制內核，在控制內核內部構建有一多任務操作系統，在系統中為輸入電路單元中個模塊創建單獨的進程，來完成各自的數據采集、處理和各種控制信息的處理，同時創建圖形界面顯示進程和通信處理進程，各進程間利用消息進行通信、交換數據。

3、如權利要求1或2所述的嵌入式計算機電測綜合儀器，其特征是：所述控制內核內包括一硬件加速器。

4、如權利要求3所述的嵌入式計算機電測綜合儀器，其特征是：所述示波器模塊和頻譜分析儀模塊包括CH1、CH2示波器的雙輸入通道、ADC轉換、DAC模塊、時鐘管理電路、EXT觸發輸入電路以及FPGA模塊，FPGA模塊中包括一SOPC接口模塊，FPGA模塊中通過SOPC接口模塊與主控單元并行總線相連。

5、如權利要求4所述的嵌入式計算機電測綜合儀器，其特征是：所述信號發生器模塊包括SOPC接口、外部存儲器接口、內部控制寄存器、主波形DDS、調制波形DDS、DAC模塊、外部控制模塊、AD7920接口、AD9755接口、AD5662接口。

6、如權利要求5所述的嵌入式計算機電測綜合儀器，其特征是：所述邏輯分析儀模塊包括電平比較單元、電平轉換單元、主控單元、顯示單元，輸入分析信號依次經過電平比較單元和電平轉換單元預處理，將信號發送到主控單元，主控單元處理信號并將處理結果發送到顯示單元顯示。

7、如權利要求6所述的嵌入式計算機電測綜合儀器，其特征是：所述頻率計模塊包括微處理單元、控制電路單元、低頻雙通道輸入單元、放大器單元、轉換器單元、高頻輸入單元、高速場效應管放大器和分頻器，控制電路單元分別控制低頻雙通道輸入單元、放大器單元和轉換器單元，低頻雙通道輸入單元將低頻輸入信號發送至放大器放大，放大后的低頻信號發送至轉換器，轉換器處理后的低頻信號發送至所述主控單元內的等精度測量模塊；高頻輸入單元將輸入信號發送至高速場效應管放大器，放大后的高頻信號經過分頻器分頻后發送至所述主控單元內的等精度測量模塊。

8、如權利要求7所述的嵌入式計算機電測綜合儀器，其特征是：所述LCR測試儀模塊包括第一測試夾、第二測試夾、檔位切換單元、電阻/電容測量單元、電感測量單元和微處理單元，其中檔位切換單元連接第一測試夾和第二測試夾對在第一測試夾和第二測試夾的輸入信號類型切換，檔位切換單元輸出的信號分別發送至電阻/電容測量單元和電感測量單元，電阻/電容測量單元和電感測量單元輸出信號到微處理單元，微處理單元與所述控制單元的控制進行通信，接收控制并發送測量結果。

9、如權利要求8所述的嵌入式計算機電測綜合儀器，其特征是：所述數字集成電路測試儀模塊包括測試座單元、引腳控制電路矩陣單元、CPLD/FPGA模塊單元和從控制器單元，其中引腳控制電路矩陣單元獲取測試座單元獲得的數據并發送給CPLD/FPGA模塊單元、CPLD/FPGA模塊單元處理數據后發送至從控制單元，從控制器單元接受所述控制單元的控制并將處理結果發送至所述控制單元。