[發(fā)明專利]一種記錄仿真波形的測試裝置及記錄仿真波形的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810067503.5
• 申請日: 2008-05-27
• 公開（公告）號(hào): CN101593217A
• 公開（公告）日: 2009-12-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐健;郗穎;王兆豐
• 申請（專利權(quán)）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號(hào): G06F17/50
• 分類號(hào): G06F17/50;G01R31/3183
• 代理公司: 深圳市永杰專利商標(biāo)事務(wù)所
• 代理人: 曹建軍

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及數(shù)字IC(Integrated?circuit，集成電路)設(shè)計(jì)和驗(yàn) 證領(lǐng)域，尤其涉及一種記錄仿真波形的測試裝置及記錄仿真波形的方 法。

背景技術(shù)

目前，數(shù)字IC設(shè)計(jì)規(guī)模越來越大，幾百萬門規(guī)模，甚至千萬門規(guī) 模設(shè)計(jì)已經(jīng)很平常了，隨之而來的是驗(yàn)證和測試的時(shí)間的成倍增加。 驗(yàn)證中RTL(Register?Transfer?Leve1，寄存器傳輸級)仿真是IC設(shè) 計(jì)必不可少的環(huán)節(jié)。

RTL仿真的優(yōu)勢是通過分析仿真波形，可以較快定位故障、解決 問題，其劣勢是仿真速度慢，尤其是開啟波形記錄功能的仿真，比不 開啟波形記錄功能的仿真速度慢3到5倍。測試人員需要在測試效率 和故障定位之間作出取舍，目前，這種取舍依賴于測試人員的判斷。

RTL仿真過程中，事先開啟波形記錄功能時(shí)，可能大部分用例仿 真后沒有發(fā)現(xiàn)異常，記錄的波形沒有意義，浪費(fèi)了仿真時(shí)間，大幅度 降低了仿真測試效率；事先不開啟波形記錄功能時(shí)，仿真結(jié)束后根據(jù) 仿真的結(jié)果，開啟波形記錄功能再次運(yùn)行一遍發(fā)現(xiàn)異常的用例，等待 仿真波形記錄完成后，借助仿真波形進(jìn)一步分析異常用例的問題。這 個(gè)過程中，用例的切換交互需要人為干預(yù)，而且通常情況下人力資源 分配和機(jī)器資源分配不盡合理，使得故障的解決可能在用例切換交互 中延后了兩三天，甚至更長時(shí)間。

綜上所述，目前的RTL仿真的自動(dòng)化程度低，波形記錄需要人工 加以干預(yù)，影響了IC研發(fā)效率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種記錄仿真波形的測試裝置及 記錄仿真波形的方法，提高了仿真波形記錄的自動(dòng)化程度及測試效率。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：

一種記錄仿真波形的測試裝置，包括：

故障處理單元，用于實(shí)時(shí)監(jiān)控用例仿真進(jìn)程中DUT(Design?Under Test，待測設(shè)計(jì))的運(yùn)行狀態(tài)，以及在所述DUT運(yùn)行狀態(tài)異常時(shí)分析 確定其故障類型；

波形記錄策略單元，用于根據(jù)所述故障處理單元分析確定的故障 類型設(shè)定波形記錄策略；

波形記錄單元，用于記錄所述DUT相應(yīng)所述波形記錄策略的仿真 現(xiàn)場的仿真波形。

上述方案中，所述測試裝置還包括仿真進(jìn)程現(xiàn)場處理單元，用于 定時(shí)對仿真進(jìn)程的現(xiàn)場進(jìn)行保護(hù)，以及據(jù)其實(shí)現(xiàn)指定仿真現(xiàn)場的恢復(fù)。

上述方案中，所述波形記錄策略為故障發(fā)生前后的一段時(shí)間波形 記錄策略、全場景波形記錄策略或者故障相關(guān)模塊波形記錄策略。

上述方案中，所述故障處理單元用于分析確定所述DUT的故障類 型前，還用于對所述故障進(jìn)行告警以及記錄所述故障發(fā)生的時(shí)間。

一種記錄仿真波形的方法，包括以下步驟：

a、實(shí)時(shí)監(jiān)控用例仿真進(jìn)程中DUT的運(yùn)行狀態(tài)，狀態(tài)異常時(shí)，分析 確定所述DUT的故障類型；

b、根據(jù)所述DUT的故障類型確定相應(yīng)的波形記錄策略；

c、記錄所述DUT相應(yīng)所述波形記錄策略的仿真現(xiàn)場的仿真波形。

上述方案中，所述仿真現(xiàn)場是通過重新運(yùn)行所述用例加以重現(xiàn)的。

上述方案中，所述步驟a中，實(shí)時(shí)監(jiān)控所述用例仿真進(jìn)程中DUT 的運(yùn)行狀態(tài)時(shí)，還將定時(shí)對所述仿真進(jìn)程的現(xiàn)場進(jìn)行保護(hù)。

上述方案中，所述步驟c中，所述仿真現(xiàn)場是恢復(fù)到指定仿真現(xiàn) 場后，繼續(xù)運(yùn)行所述指定仿真現(xiàn)場后續(xù)的仿真進(jìn)程加以重現(xiàn)的。

上述方案中，所述定時(shí)對仿真進(jìn)程的現(xiàn)場進(jìn)行保護(hù)是指每100萬 納秒對所述仿真進(jìn)程的現(xiàn)場進(jìn)行一次記錄。

上述方案中，所述步驟a中，所述DUT的運(yùn)行狀態(tài)異常時(shí)，首先 將對故障進(jìn)行告警并記錄故障發(fā)生的時(shí)間。

本發(fā)明的有益效果主要表現(xiàn)在：本發(fā)明提供的記錄仿真波形的方 法可以充分利用本發(fā)明提供的測試裝置，在一次仿真進(jìn)程中，通過故 障監(jiān)控、故障分析，自動(dòng)完成波形記錄策略相應(yīng)仿真現(xiàn)場的波形記錄， 提高了波形記錄的自動(dòng)化程度，節(jié)約了測試時(shí)間，節(jié)省了仿真波形的 存儲(chǔ)空間；進(jìn)一步地，仿真現(xiàn)場可從多個(gè)斷點(diǎn)實(shí)現(xiàn)恢復(fù)，從而進(jìn)一步 縮短了測試時(shí)間，提高了測試效率，縮短了IC研發(fā)的周期。

附圖說明

圖1為本發(fā)明記錄仿真波形的測試裝置的工作示意圖；

圖2為本發(fā)明記錄仿真波形的方法流程圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例一的工作流程圖；