[發明專利]一種相位測量的校準方法、裝置及測距設備

有效

• 申請號: 200810067250.1
• 申請日: 2008-05-16
• 公開（公告）號: CN101581783A
• 公開（公告）日: 2009-11-18
• 發明（設計）人: 杜鑫;伍昕;侴智
• 申請（專利權）人: 張俊忠
• 主分類號: G01S7/497
• 分類號: G01S7/497;G01S17/32
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所
• 代理人: 張全文

1.一種相位測量的校準方法，其特征在于，所述方法包括步驟：

第一光波發射裝置發射第一光波至被測目標，所述第一光波被被測目標反 射折回后被一接收裝置接收，其中，所述第一光波作為外光路信號由第一高頻 振蕩信號調制生成；

第二光波發射裝置發射第二光波至所述接收裝置，其中，所述第二光波作 為基底參考的內光路信號由第二高頻振蕩信號調制生成；

控制電路控制所述第一光波發射裝置和所述第二光波發射裝置的發射順 序，使所述內光路信號和外光路信號的切換時間為毫秒級；

所述接收裝置將先后接收到的兩路所述第一光波和第二光波分別與一混頻 信號進行混頻，并將混頻后的兩路所述第一光波和第二光波進行相位比較，輸 出消除基底的相位差信號；

所述第一高頻振蕩信號和第二高頻振蕩信號為頻率相同，且相位相同或具 有固定相位差的高頻振蕩信號；

所述兩路第一光波和第二光波均為激光。

2.一種相位測量的校準裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一光波發射裝置，用于根據接收到的第一高頻振蕩信號調制生成第一光 波，并將所述第一光波作為外光路信號發射至被測目標；

第二光波發射裝置，用于根據接收到的第二高頻振蕩信號調制生成第二光 波，并將所述第二光波作為基底參考的內光路信號發射；

控制電路，用于控制所述第一光波發射裝置和所述第二光波發射裝置的發 射順序，使所述內外光路信號的切換時間為毫秒級；

光電轉換裝置，用于分別接收所述第二光波和由被測目標反射折回的所述 第一光波進行光電轉換并分別輸出；以及

混頻器，用于將所述光電轉換裝置輸出的兩路信號分別與混頻信號進行混 頻并分別輸出至鑒相器；

鑒相器，用于分別接收兩路混頻后的信號，并將兩路混頻后的信號進行相 位比較輸出消除基底的相位差信號；

與所述光電轉換裝置輸出的兩路信號分別進行混頻的混頻信號為頻率相 同，且相位相同或具有固定相位差的高頻振蕩信號；

所述光電轉換裝置和所述混頻器包含于一接收裝置內，所述接收裝置為光 電二極管、光電三極管或光電倍增管。

3.如權利要求2所述的一種相位測量的校準裝置，其特征在于，所述校準 裝置進一步包括：

振蕩器，用于產生并輸出所述高頻振蕩信號和所述混頻信號；和/或

放大裝置，用于接收所述光電轉換裝置的輸出信號進行放大，并輸出。

4.一種包含如權利要求2或3所述的校準裝置的測距設備。