[發明專利]光纖端面檢測儀

有效

• 申請號: 200810066659.1
• 申請日: 2008-04-16
• 公開（公告）號: CN101561260A
• 公開（公告）日: 2009-10-21
• 發明（設計）人: 周其
• 申請（專利權）人: 周其
• 主分類號: G01B11/255
• 分類號: G01B11/255;G01B11/02;G01B11/26;G01B11/00
• 代理公司: 深圳創友專利商標代理有限公司
• 代理人: 安秀梅

技術領域

本發明涉及一種光纖檢測儀器，具體涉及一種可檢測更詳細光纖端面參數的光纖端面檢測儀。

背景技術

目前因為其高品質的傳輸速率光纖在通信及家庭的應用日益廣泛。光纖作為一種高精密的傳輸媒介，其工藝要求高，對光纖連接器端面的表面幾何狀況要求也越來越高。在生產現場需要對光纖的很多參數進行檢測。現有的光纖檢測儀器將獲得的光纖端面表面的圖像通過透鏡投射在圖像傳感器上，操作人員借助圖象傳感器查看結果。但是，現有的光纖檢測儀器一般只能檢測光纖端面的污垢、灰塵或者其它污染物質，尚無法對光纖端面的球面半徑、頂點偏移、光纖高度或者APC角度等參數進行精確測量。

因此，亟待一種新型的光纖檢測儀器以及相應的光纖檢測制具以獲得更多有關光纖端面的參數。

發明內容

本發明的目的是提供一種可檢測更詳細光纖端面參數的光纖端面檢測儀。

實現所述目的的技術方案是：一種光纖端面檢測儀，包括外殼、收容在外殼內的光源、干涉光路、圖像采集器件，還包括微調干涉光路的電控單元，所述外殼上具有檢測窗口，被測的光纖固定在檢測窗口處，所述光源的光束被干涉光路分成參考光束和從檢測窗口檢測光纖端面的檢測光束，所述參考光束和檢測光束反射形成干涉圖紋并經干涉光路的凸透鏡成像在圖像采集器件上，所述電控單元微調干涉光路，從而在圖像采集器件上形成若干組推導被測光纖端面參數的干涉圖像信息。

所述光纖端面檢測儀進一步包括連接圖像采集器件和電控單元的處理器，所述處理器通過電控單元微調所述干涉光路，并在圖像采集器件上形成若干組干涉圖像信息，所述處理器接收所述若干組干涉圖像信息，并處理得出被測光纖端面的幾何參數。

所述光纖端面檢測儀進一步包括連接處理器的顯示裝置。

所述干涉光路包括半透半反鏡、反射鏡以及凸透鏡，從光源發出的激光束被半透半反鏡分成參考光束和從檢測窗口檢測光纖端面的檢測光束，其中參考光束經由反射鏡、半透半反鏡反射；檢測光束從被測光纖端面反射；所述參考光束和檢測光束反射形成干涉圖紋并經干涉光路的凸透鏡成像在圖像采集器件上。

優選的，所述電控單元連接一微位移器，所述微位移器帶動反射鏡發生位移，從而在所述圖像采集器件上形成若干組干涉圖像信息。

優選的，所述外殼在靠近反射鏡處設置有用來微調反射鏡的手動微調裝置。

所述光纖端面檢測儀還包括安裝在外殼檢測窗口處的光纖定位夾具，所述光纖定位夾具包括用來插入光纖插芯的可鎖緊的支撐管、改變支撐管大小的鎖緊固定機構以及用來進一步軸向定位光纖連接器的浮動定位器。

具體來說，所述鎖緊固定機構包括在夾具上橫向延伸的懸臂、按壓懸臂末端使其產生微小扭轉的鎖緊件以及推動鎖緊件的手柄，所述支撐管的部分與懸臂整合為一體，所述定位夾具在支撐管兩側開設有卡槽。

優選的，所述光纖定位夾具固定在一可精確轉動和復位的調節機構上，調整調節機構測試APC型光纖連接器的光纖端面，所述調節機構包括底座、轉動安裝在底座上的立板、固定在立板上的操作體以及推動操作體轉動的固定在底座上的微位移調節器，所述立板上固定所述光纖定位夾具。

所述操作體包括連接立板的第一臂部和第二臂部，所述底座開設有導槽，所述第二臂部和底座之間連接有復位彈簧，所述第一臂部設置有穿過底座導槽的固定柱，在所述底座底部對應所述固定柱設置有用來確定旋轉位置的凸輪緊固件。