[發(fā)明專利]一種高穩(wěn)晶振的自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810065632.0 | 申請(qǐng)日: | 2008-01-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101231321A | 公開(公告)日: | 2008-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 傅小明;李宗安;劉學(xué)軍;陳海林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市君勝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 | 代理人: | 王永文 |
| 地址: | 518057廣東省深圳市南山*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高穩(wěn)晶振 自動(dòng)化 測(cè)試 方法 裝置 | ||
1.一種高穩(wěn)晶振的自動(dòng)化測(cè)試裝置,其特征在于,包括設(shè)置在印制電路板上的中央處理器、可編程邏輯器件、一個(gè)或多個(gè)數(shù)模轉(zhuǎn)換器,一個(gè)外部標(biāo)準(zhǔn)參考信號(hào);
每個(gè)高穩(wěn)晶振和所述中央處理器、所述可編程邏輯器件以及所述數(shù)模轉(zhuǎn)換器構(gòu)成一環(huán)路,用于計(jì)算需要測(cè)試的晶振指標(biāo),并與預(yù)先設(shè)定的晶振指標(biāo)做比較,判斷每一高穩(wěn)晶振是否合格。
2.根據(jù)權(quán)利1所述的裝置,其特征在于,所述的外部參考信號(hào)以及高穩(wěn)晶振輸出的信號(hào)輸入至所述的可編程邏輯器件;所述的數(shù)模轉(zhuǎn)換器一端與高穩(wěn)晶振相連,另一端和所述中央處理器相連,中央處理器通過控制數(shù)模轉(zhuǎn)換器輸出的電壓以控制高穩(wěn)晶振輸出信號(hào)的頻率;所述的中央處理器和所述的可編程邏輯器件相連,用于計(jì)算高穩(wěn)晶振的指標(biāo)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置,其特征在于,所述中央處理器和一外部計(jì)算機(jī)相連,與外部計(jì)算機(jī)通信。
4.一種高穩(wěn)晶振的自動(dòng)化測(cè)試方法,其包括以下步驟:
A、選擇待檢測(cè)高穩(wěn)晶振的規(guī)格型號(hào),并設(shè)定該高穩(wěn)晶振對(duì)應(yīng)的指標(biāo);
B、中央處理器通過數(shù)模轉(zhuǎn)換器控制所述高穩(wěn)晶振的壓控端電壓,使該高穩(wěn)晶振的壓控端輸入電壓穩(wěn)定在某個(gè)電壓;
C、計(jì)算出需要測(cè)試的高穩(wěn)晶振指標(biāo),并與預(yù)先設(shè)定的晶振指標(biāo)做比較,判斷該高穩(wěn)晶振是否合格,將測(cè)試結(jié)果向后臺(tái)計(jì)算機(jī)報(bào)告。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,所述步驟C還包括:
C1、所述高穩(wěn)晶振輸出的信號(hào)在一可編程邏輯器件中生成一第一信號(hào),標(biāo)準(zhǔn)參考信號(hào)在可編程邏輯器件中生成一第二信號(hào),通過計(jì)算該第一信號(hào)和該第二信號(hào)的相對(duì)相位差以計(jì)算所述高穩(wěn)晶振輸出信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)參考信號(hào)的頻差。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述步驟C1還包括:C11、將所述第一信號(hào)同步于第二信號(hào)后,讓該兩個(gè)信號(hào)自由振蕩,等待一定時(shí)間后對(duì)所述第一信號(hào)和所述第二信號(hào)鑒相,得到一鑒相值;
C12、重復(fù)上述步驟得出所述高穩(wěn)晶振在不同的壓控電壓時(shí)對(duì)應(yīng)的鑒相值。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述需要測(cè)試的高穩(wěn)晶振指標(biāo)包括晶振的壓控范圍、壓控斜率、控制線性度、中心電壓。
8.根據(jù)權(quán)利要求4至7任一所述的方法,其特征在于,所述步驟A中所述高穩(wěn)晶振的規(guī)格型號(hào)和需要測(cè)試的晶振指標(biāo)由所述外部計(jì)算機(jī)預(yù)先設(shè)定。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述步驟C11的鑒相過程還包括:
用一個(gè)異或門對(duì)所述第一信號(hào)和所述第二信號(hào)進(jìn)行鑒相,兩者電平相同時(shí)所述異或門輸出一個(gè)低電平,兩者電平不同時(shí)所述異或門輸出一個(gè)高電平;用一個(gè)符號(hào)位表示所述第一信號(hào)超前或滯后于所述第二信號(hào),用預(yù)定頻率的時(shí)鐘在所述異或門輸出為高電平時(shí)計(jì)數(shù);所述符號(hào)位和所述計(jì)數(shù)的最終值相乘得到所述鑒相值。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其特征在于,所述步驟C還包括:從所述鑒相值中計(jì)算出當(dāng)前高穩(wěn)晶振輸出信號(hào)的頻率。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
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