[發(fā)明專利]光纖陀螺磁場－溫度靈敏度測試方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810061656.9
• 申請日: 2008-05-26
• 公開（公告）號: CN101285690A
• 公開（公告）日: 2008-10-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 程來富;張登偉;舒曉武
• 申請（專利權(quán)）人: 浙江大學(xué)
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00;G01C19/64
• 代理公司: 杭州求是專利事務(wù)所有限公司
• 代理人: 張法高

1、一種光纖陀螺磁場-溫度性能的測試方法，其特征在于包括以下步驟：

1)將光纖陀螺水平放置于測試平臺，計算機(jī)采集光纖陀螺靜態(tài)時輸出；

2)加磁場，使光纖陀螺處于徑向磁場作用下；

3)控制光纖陀螺在磁場中勻速轉(zhuǎn)動；

4)通過霍爾傳感器測量磁場強(qiáng)度，計算機(jī)采集光纖陀螺各個方向的徑向磁場作用下的輸出；

5)測試一段時間后，光纖陀螺停止轉(zhuǎn)動，光纖陀螺由垂直水平面方向轉(zhuǎn)過90度，此時，光纖陀螺處于軸向磁場作用下；

6)按照步驟3)、步驟4)，計算機(jī)采集光纖陀螺各個方向的軸向磁場作用下的輸出，關(guān)磁場；

7)通過半導(dǎo)體制冷器控制光纖陀螺工作溫度為0℃～60℃；

8)通過溫度傳感器實時測試溫度值，計算機(jī)采集光纖陀螺在不同溫度環(huán)境下的輸出；

9)按照步驟2)、步驟3)、步驟7)、步驟8)，測試徑向磁場和溫度共同作用下，光纖陀螺的輸出。

10)按照步驟5)、步驟7)、步驟8)，測試軸向磁場和溫度共同作用下，光纖陀螺的輸出。

2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖陀螺磁場-溫度性能的測試方法，其特征在于：所述的加磁場是將光纖陀螺置于Helmholtz線圈中，由Helmholtz線圈提供位于線圈中心處的勻強(qiáng)磁場，通過改變直流穩(wěn)恒電源的電流來控制勻強(qiáng)磁場的大小，通過改變電源的極性來改變磁場的方向。

3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖陀螺磁場-溫度靈敏度測試方法，其特征在于：所述控制光纖陀螺在磁場中勻速轉(zhuǎn)動是通過步進(jìn)電機(jī)實現(xiàn)，步進(jìn)電機(jī)轉(zhuǎn)過θ角度，陀螺也轉(zhuǎn)過相應(yīng)的角度θ，以此控制陀螺的角度位置。

4、根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖陀螺磁場-溫度靈敏度測試方法，其特征在于：所述通過霍爾傳感器測量磁場強(qiáng)度是使用一個電機(jī)帶動霍爾傳感器轉(zhuǎn)動，測得的磁場最大值即為磁場強(qiáng)度。