[發明專利]乙炔氣體的光學檢測方法及裝置

無效

• 申請號: 200810061087.8
• 申請日: 2008-04-30
• 公開（公告）號: CN101308089A
• 公開（公告）日: 2008-11-19
• 發明（設計）人: 鮑吉龍;丁志群
• 申請（專利權）人: 寧波工程學院
• 主分類號: G01N21/39
• 分類號: G01N21/39
• 代理公司: 寧波市天晟知識產權代理有限公司
• 代理人: 張文忠

1.乙炔氣體的光學檢測裝置，包括信號發生裝置(1)和氣體吸收池(3)，其特征是：所述的信號發生裝置(1)連接有能受所述的信號發生裝置(1)調制的可調激光裝置(2)；

所述的可調激光裝置(2)產生的光通過所述的氣體吸收池(3)傳送到光電檢測裝置(4)；所述的光電檢測裝置(4)連接有放大適配裝置(5)；

所述的信號發生裝置(1)還連接所述的放大適配裝置(5)，所述的放大適配裝置(5)連接有能處理數據并輸出檢測結果的計算機(6)；

所述的信號發生裝置(1)包括正弦波調制信號發生器(11)和三角波調制信號發生器(12)；所述的放大適配裝置(5)包括至少一個鎖相放大器(51)，并且所述的放大適配裝置(5)還包含數據采集卡裝置(52)；所述的數據采集卡裝置(52)能對所述的鎖相放大器(51)和所述的計算機(6)之間進行適配；所述的可調激光裝置(2)包括激光器溫度電流控制器(21)和激光器(22)；所述的激光器溫度電流控制器(21)能在所述的信號發生裝置(1)的調制下控制所述的激光器(22)的電流或溫度；所述的可調激光裝置(2)的工作溫度為30℃至35℃；所述的可調激光裝置(2)的輸出波長為1529nm至1531nm；所述的激光器(22)安裝有分布反饋式半導體激光二極管。

2.根據權利要求1所述的乙炔氣體的光學檢測裝置，其特征是：所述的氣體吸收池(3)能容納待測氣體；所述的待測氣體包括乙炔。

3.根據權利要求1所述的乙炔氣體的光學檢測裝置，其特征是：所述的光電檢測裝置(4)包括PIN探測器。

4.根據權利要求1至3任一權利要求所述的乙炔氣體的光學檢測裝置，其特征是：所述的計算機(6)能讀取所述的放大適配裝置(5)的發出的信號，并且對所采集信號進行處理，輸出檢測結果。