[發(fā)明專利]激光衍射測量周期極化晶體參數(shù)的方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810052630.8
• 申請日: 2008-04-08
• 公開（公告）號: CN101266209A
• 公開（公告）日: 2008-09-17
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 高峰;許京軍;張國權(quán);姚江宏;張文定;劉海旭
• 申請（專利權(quán)）人: 南開大學(xué)
• 主分類號: G01N21/41
• 分類號: G01N21/41;G06F19/00
• 代理公司: 天津佳盟知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 侯力

1、一種激光衍射測量周期極化晶體參數(shù)的方法，其特征在于該方法的測量過程是：

第一、將待測樣品放置于樣品臺上，令激光器光線沿與樣品表面極化方向同向入射樣品表面，其透射光和衍射光照射到樣品后面的屏幕上，使屏幕上產(chǎn)生透射和衍射光斑；

第二、測量出樣品厚度d，各級衍射光斑的衍射光強I_m和激光入射到樣品上的光強I_in及衍射激光與入射方向之間的夾角φ_m，

通過公式ηm/ηn=n2sin2(mπW)m2sin2(nπW),]]>可以得到周期極化晶體的占空比W；

其中式中各參數(shù)分別表示：m，n為衍射的級次，且m，n≠0，透過光毗鄰的衍射光對稱分布為1級，2級……；η為各級光的衍射效率，定義為ηm=ImIin,]]>I_m為第m級衍射光光強，I_in為入射激光光強，W為占空比。

2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于衍射激光與入射方向之間的夾角φ_m通過在樣品后放置一個與樣品表面平行的白屏，在激光垂直入射樣品表面時，測量屏上的衍射光點與透過光點間的距離D，屏與樣品的距離L，由tanφ＝D/L得到。