[發明專利]諧衍射紅外雙波段超光譜成像系統

無效

• 申請號: 200810051552.X
• 申請日: 2008-12-09
• 公開（公告）號: CN101424571A
• 公開（公告）日: 2009-05-06
• 發明（設計）人: 劉英;孫強;盧振武;王健
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01N21/00
• 代理公司: 長春菁華專利商標代理事務所
• 代理人: 王立偉

1、諧衍射紅外雙波段超光譜成像系統，其特征在于諧衍射紅外雙波段超光譜成像系統包括中紅外波段超光譜成像系統，其中包括諧衍射透鏡(1)，孔徑光闌(2)，制冷型焦平面探測器(3)；長紅外波段超光譜成像系統，其中包括諧衍射透鏡(1)，孔徑光闌(2)，非制冷型焦平面探測器(3’)；

各部件的位置及連接關系；

在同一光軸上沿入射光傳播方向依次放置諧衍射透鏡(1)，孔徑光闌(2)，制冷型焦平面探測器(3)或者非制冷型焦平面探測器(3’)；入射的中、長紅外波段通過諧衍射透鏡(1)分光和會聚后，經孔徑光闌(2)，分別成像在制冷型焦平面探測器(3)或者非制冷型焦平面探測器(3’)。

2、根據權利要求1所述的諧衍射紅外雙波段超光譜成像系統，其特征在于所述工作波段為：中紅外波段是3.2-4.8μm，長紅外波段是8-12μm。

3、根據權利要求1所述的諧衍射紅外雙波段超光譜成像系統，其特征在于所述的諧衍射透鏡(1)后表面上加工成諧衍射面，滿足pλ₀＝mλ的諧振條件，設定諧衍射透鏡(1)和孔徑光闌(2)之間的距離、諧衍射透鏡的面型參數A₁、A₂、A₃為變量，并對系統進行優化，使系統的單色像差達到最佳分配。