[發明專利]四根測桿定位離軸非球面鏡與零位補償器相對位置的方法

無效

• 申請號: 200810051436.8
• 申請日: 2008-11-18
• 公開（公告）號: CN101408411A
• 公開（公告）日: 2009-04-15
• 發明（設計）人: 宋淑梅;宣斌;張紅;王朋;李俊峰;陳曉蘋
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24
• 代理公司: 長春菁華專利商標代理事務所
• 代理人: 劉樹清

1.四根測桿定位離軸非球面鏡與零位補償器相對位置的方法，是通過零位補償器和檢測設備用自準直的辦法檢測離軸非球面鏡的面形；其特征在于第一步，搭建檢測裝置，所述檢測裝置包括離軸非球面鏡(5)，零位補償器(6)，檢測設備(7)，非球面鏡支架(8)，補償器支架(9)，檢測設備支架(10)，光學穩定平臺(11)，第一測桿(12)，第二測桿(13)，第三測桿(14)，第四測桿(15)；在光學穩定平臺(11)上，從左至右或從右至左依次排列安置非球面鏡支架(8)、補償器支架(9)、檢測設備支架(10)，并將離軸非球面鏡(5)、零位補償器(6)、檢測設備(7)分別安裝在非球面鏡支架(8)、補償器支架(9)、檢測設備支架(10)上；第二步，選取第一測桿(12)，第二測桿(13)，第三測桿(14)，第四測桿(15)在離軸非球面鏡(5)和零位補償器(6)上的預定位置：設第一測桿(12)在離軸非球面鏡(5)、零位補償器(6)上的預定接觸點分別為a、a′，第二測桿(13)在離軸非球面鏡(5)、零位補償器(6)上的預定接觸點分別為b、b′，第三測桿(14)在離軸非球面鏡(5)、零位補償器(6)上的預定接觸點分別為c、c′，第四測桿(15)在離軸非球面鏡(5)、零位補償器(6)上的預定接觸點分別為d、d′；各預定接觸點選取位置為：接觸點a、b位于離軸非球面鏡(5)的左右兩邊的中點位置，接觸點a′、b′位于零位補償器(6)的左右邊的中心點位置，接觸點a、b與a′、b′處于同一水平高度；接觸點c、d位于離軸非球面鏡(5)上下兩邊的中點位置，接觸點c′、d′位于零位補償器(6)的上下邊的中心點位置，接觸點c、d的連線與接觸點a、b的連線正交，接觸點c′、d′的連線與接觸點a′、b′的連線正交；第三步，根據離軸非球面鏡(5)的光學設計數據計算第一測桿(12)，第二測桿(13)，第三測桿(14)，第四測桿(15)的理論長度，并按照理論長度制作第一測桿(12)，第二測桿(13)，第三測桿(14)，第四測桿(15)，其中第三測桿(14)與第四測桿(15)等長；第四步，調整補償器支架(9)使零位補償器(6)兩端水平；第五步，調整非球面鏡支架(8)，使離軸非球面鏡(5)幾何中心點與零位補償器(6)幾何中心點處于同一水平高度；第六步，保持第五步成立的前提下，調整非球面鏡支架(8)，使第一測桿(12)、第二測桿(13)、第三測桿(14)、第四測桿(15)兩端分別與零位補償器(6)和離軸非球面鏡(5)接觸于預定位置；第七步，調整檢測設備支架(10)，使檢測設備(7)能夠輸出離軸非球面鏡(5)的面形信息數據。