[發(fā)明專利]一種大尺寸試樣表面裂紋擴(kuò)展長度的自動測量方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810049848.8
• 申請日: 2008-05-23
• 公開（公告）號: CN101281017A
• 公開（公告）日: 2008-10-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張亞軍;查小琴;方文華
• 申請（專利權(quán)）人: 中國船舶重工集團(tuán)公司第七二五研究所
• 主分類號: G01B7/02
• 分類號: G01B7/02
• 代理公司: 鄭州中民專利代理有限公司
• 代理人: 郭中民

1、一種大尺寸試樣表面裂紋擴(kuò)展長度的自動測量方法，其特征是：在大尺寸試樣表面裂紋兩端分別粘貼具有一定形狀的康銅箔片，將兩片康銅箔片上位于非測量端的兩個(gè)電壓觸點(diǎn)和兩個(gè)電流觸點(diǎn)分別串聯(lián)，將兩片康銅箔片測量端的兩個(gè)電壓觸點(diǎn)和兩個(gè)電流觸點(diǎn)分別接入電壓信號測量與采集系統(tǒng)和恒定的小電流供電系統(tǒng)；通過連續(xù)測量康銅箔片測量端由于其自身隨表面裂紋擴(kuò)展開裂而造成的電壓變化，根據(jù)標(biāo)定建立的康銅箔片測量端電壓變化與表面裂紋長度的關(guān)系，得到大尺寸試樣表面裂紋的擴(kuò)展長度。

2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種大尺寸試樣表面裂紋擴(kuò)展長度的自動測量方法，其特征是：由康銅箔片兩側(cè)的電壓變化通過大尺寸試樣表面裂紋擴(kuò)展長度Δ2c(mm)與康銅箔片兩側(cè)的電壓變化Δu的函數(shù)關(guān)系，即Δ2c(mm)＝0.07365Δu(mV)+0.08936(R＝0.9995)得到大尺寸試樣表面裂紋擴(kuò)展長度。

3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種大尺寸試樣表面裂紋擴(kuò)展長度的自動測量方法，其特征是：所述的大尺寸試樣表面裂紋在粘貼康銅箔片前進(jìn)行銳化，即銳化大尺寸試樣表面裂紋的兩個(gè)前端，確保銳化深度和長度一致，且銳化方向在一條直線上，以模擬實(shí)際表面裂紋，使兩個(gè)康銅箔片前端充分靠近表面裂紋的兩個(gè)尖端，同時(shí)確保兩個(gè)康銅箔片的幾何中線位于表面裂紋兩個(gè)尖端的銳化線上。