[發(fā)明專利]非接觸角度/位移檢測(cè)傳感器無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810047810.7 | 申請(qǐng)日: | 2008-05-22 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101586966A | 公開(kāi)(公告)日: | 2009-11-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬哲學(xué);李立剛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 黃石市鑫馬電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01D5/26 | 分類號(hào): | G01D5/26 |
| 代理公司: | 黃石市三益專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 饒建華 |
| 地址: | 435000湖北*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 接觸 角度 位移 檢測(cè) 傳感器 | ||
1.非接觸角度/位移檢測(cè)傳感器,它具有殼體,殼體的中心處安裝有旋轉(zhuǎn)軸,殼體的尾端配有蓋板,其特征是:在殼體內(nèi)固定安裝有圖像采樣處理系統(tǒng),在旋轉(zhuǎn)軸上裝有反射板,在殼體上還裝有信號(hào)輸出接口連接圖像采樣處理系統(tǒng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸角度/位移檢測(cè)傳感器,其特征是:所述反射板,具有基板,在基板上鍍有均勻分布的放射金屬細(xì)線條,或在基板上涂覆或印制均勻、具有反差、圖像變化的有色顆粒物。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸角度/位移檢測(cè)傳感器,其特征是:所述圖像采樣處理系統(tǒng),包括有電路板,在電路板上安裝有透鏡、LED發(fā)射光管以及單片機(jī)芯片,與單片機(jī)芯片分別連接有DSP圖像數(shù)字微處理器、存儲(chǔ)器、復(fù)位電路、串行通訊輸出信號(hào)處理電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的非接觸角度/位移檢測(cè)傳感器,其特征是:所述DSP圖像數(shù)字微處理器是采用ADNS2610型數(shù)字式光學(xué)傳感芯片。
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G01D 非專用于特定變量的測(cè)量;不包含在其他單獨(dú)小類中的測(cè)量?jī)蓚€(gè)或多個(gè)變量的裝置;計(jì)費(fèi)設(shè)備;非專用于特定變量的傳輸或轉(zhuǎn)換裝置;未列入其他類目的測(cè)量或測(cè)試
G01D5-00 用于傳遞傳感構(gòu)件的輸出的機(jī)械裝置;將傳感構(gòu)件的輸出變換成不同變量的裝置,其中傳感構(gòu)件的形式和特性不限制變換裝置;非專用于特定變量的變換器
G01D5-02 .采用機(jī)械裝置
G01D5-12 .采用電或磁裝置
G01D5-26 .采用光學(xué)裝置,即應(yīng)用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光
G01D5-42 .采用流體裝置
G01D5-48 .采用波或粒子輻射裝置
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





